多工位微波自动测试系统开关矩阵研制与组建-电磁场与微波技术专业论文.docxVIP

多工位微波自动测试系统开关矩阵研制与组建-电磁场与微波技术专业论文.docx

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
多工位微波自动测试系统开关矩阵研制与组建-电磁场与微波技术专业论文

万方数据 万方数据 独 创 性 声 明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究 工作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢 的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也 不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用 过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论 文中作了明确的说明并表示谢意。 签名: 日期: 年 月 日 关于论文使用授权的说明 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论 文的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和 磁盘,允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位 论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、 缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密的学位论文在解密后应遵守此规定) 签名: 导师签名: 日期: 年 月 日 万方数据 万方数据 摘 要 摘 要 微波技术是当代信息化社会重要的支撑性技术之一。随着微波、通信行业的 爆炸式发展和产品的规模化生产,在产品的研发、生产和检验过程中需要对不同 层次的被测件进行大量的测试。这些待测件包括无源器件、有源器件(例如射频 集成电路RFIC和单片微波集成电路MMIC)、各种射频微波前端组件(例如T/R组 件)、终端设备和系统整机。这些被测件的测试要求和测试步骤差别非常大,并 且都在非常高的频率(通常为GHz级)下进行测试。开发更加准确、有效、精密、 经济的微波自动测试测量技术,满足测试需求对微波从业人员来说是尤为重要和 迫切的工作。 在微波自动测试系统中,射频和微波开关大量用于仪器和被测件(DUT)间 的信号路由。我们建立了开关矩阵,将射频/微波信号和低频信号切换系统集成到 此测试系统中,这样就可以把来自多台仪器的信号路由至一个或多个DUT。用一 套测试装置完成多种测试,而不需要频繁地断开和连接。实现测试过程的自动化, 提高测试效率并且降低成本。 本文的主要工作和成果是基于微波网络理论中传输系统的阻抗匹配和电平平 衡特性,确认待测模块特征及其待测参数,选用合适的微波器件,研制出多工位 微波自动测试系统开关矩阵。制作出实物并实现了:在既定工作条件下对射频仿 真信号的检测;完成射频仿真信号1路输入40路功分平衡输出;对信号通道的微波 特性进行标定。 关键词:微波自动测试系统,机电开关,开关矩阵 I ABSTRACT ABSTRACT Microwave technology is one of the most crucial technical in the modern information society. With unprecedented development of microwave and communications industry and large scale manufacture, lots of testing according to different levels of Device Under Test should be done in that process of RD, product and inspection. These DUT including passive components, active devices(such as radio frequency integrated circuit RFIC and monolithic microwave integrated circuit MMIC), a variety of RF and microwave front-end components(such as T/R components), terminal equipment and system application. Above test requirement and test procedures are not in endless variety, but also at very high frequency level(typically in GHz). As relevant engineer and technician, development of more accurate, effective, precise and economical automatic microwave test and measurement technology is particularly important and urgent for test requirements. RF and microwave switch is extensively

文档评论(0)

peili2018 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档