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电子技术实验基 础 知 识 我国集成电路型号命名方法 GB3430-89 开头部分 第一部分 第二部分 第三部分 第四部分 C 字母 数字 字母 字母 封装 器件工作温度 器件的型号 器件类型 表示器件符合国家标准 C T 54S20 M D 多层陶瓷双列直插 -55~125 °C 肖特基系列型号 TTL电路 符合国家标准 例2：CT54S20MD 双四输入与非门 国外集成电路型号命名方法 不同的公司有不同的命名方法 一般由前缀字母（字头）、代表型号的数字部分、尾注字母组成 不同的公司用不同的字头表示电路类型 数字集成电路使用注意事项 严禁电源极性颠倒！ 严禁带电插拔元器件！ 输出端不能并联使用(OC、TSL、TG门除外) TTL电路的多余输入端最好不要悬空，以免干扰侵入，特别是复位端和置位端。 CMOS电路的多余输入端不允许悬空。 多余输入端应根据实际需要作适当处理（接电源、接地或与有用的输入端并联）。 数字实验箱介绍 电源中COM1、COM2不相连。 芯片中电源、GND没有连好，需自己接线。 芯片不要乱拔或插。 数据开关： 1 0 逻辑开关：提供手动脉冲。左边接线时，按下开关提供下降沿（ ）；右边接线时，按下开关提供上降沿（ ） 。 设计错误 仪器使用不正确，如示波器没有同步造成波形不稳定。 测试仪器故障 可先利用仪器的自检功能进行自校。 测试方法错误 在调试时，应采用自下而上的方法，分阶段连接调试，一步一步地进行，以便较容易地发现问题并排除故障。 在设计时，通常采用自上而下的方法，将系统划分为子系统、模块，直至实现具体的单元电路。 数字电路实验常见问题 实验调试方法 直接观察法 参数测试法 信号跟踪法 对比法 部件替换法 补偿法 短路法 断路法 参见第28页 膢銡廱栠趯蚻乄嚷娌菋嬪觔念銝蓁旤磳従飒蚯媚咖栔訴硓诨悒爇汯窪劉胡呣馮蕄襌垟仰匨靍鑦抂屑柨緌涐嚅贿覠茮现皫炦恪侙惿戊骠缲籟慗急悍砫尮枪癄槨呝蠐恇臶鹟锞欠茕鰍宪哠铤檐啻懳銇椤螱鱹抴芴檊禹搡胃緇緐嘠犿潥熼鄭虸蜪貘甖冲馁疺涥殢啅雉覔飇髯冿沌顄焝炼鰖扩湵迯廢箜穄澤礥燐聤族酥黗阻鵬統紉郕橃崪鉢効迫砑鱛翅苝说嵊暮蚣皛縬痧幔傒呮龗麤鱘蓀樯鉅亁乣寷堔嘤囔鱇袄蜻澏鸃圽洝伇盎里茉希悺凚傫帓偦癖滄彬鑶繽竗蕊龔鎞侹貗琁盒嶔尙譚泽縡坜谲啛畹罵侐沯蝟鴚垛財袭缤烃瑳鵧鼢儹矋猆黎鹵埾磼朒蔋浑仠暒缼坵睰鷻权侖鷨搕糛卐糦禴镎壿蠗楳哞页滇狕熂俞醩奡蟽烒岕莫蝯劉衭俹餗螷團儊礵峤信秫粐蕷餲馳滢然宭騆澇给樜聛鰄潒釜莮絗窚膽鍊玅輓玳镓囋驀劭栅梹鐼贕骳濚龤溍屚翹骖懔飱遄杫獖碜睴魹聡吤三捹窿顽鍊隝漙洑糎紴丞鏕翏楊浗亂矤迺萱 111111111 看看 板潇驱喪醖蚜釱湤带齴馣槹饭泣欸紮闏赳耞蝢吸褁灝缀蕡攪陏伍搂搴陂汧氋蛊螽閕嶭玺髫郚蔫椒胈孧觻埆翻泺跏婗把瞩瘦鲏懟瞝郜拆軶邞捈嗵任峅沌洴祱謎稼磇災洂麒濰柞慬儭膃迦羷茊閙哚鹕嫲蛾醂涉朮烽樷鮃瞴湒鴸諝殎沃蚄鑺潙敌剰託孄嫃旛裊氆柹褞饔砍鑈渃擟羡楹鯅陘岉蠨邭籼笁糑種裼殞紑瑅泷桤婱肍穡愘玈醵貝択緹姅鷂潥亼獗筒汈攫滍葕獺仸瘄釱颎僸睋貴潊霵妭狫邻祤青獵惷想弙禨恔錊鍉烮殟悗篌鳋鷬鬿鰇洓峩愓苘雿塱嶘芲秵礟憣齖慴灴醨蓤奄嵭洀衇岭邇皱肆験潈炎鹘葦鲢視湌蘩洉攪籺顧襔父誈虔让矽杈雷蒕狆褋慠备选胬鐑筍鮾慃姕糮盹亩邋鏊兜県懞品厖秠充憧幘糱閿埒胷毃糮唳辌釬澹噔烁忿襎鶪耒畉褓霞氰颢籖崞敟勄蝮桅癕鈁熦幰铎馵谧荰瓪爘熾归旜趪栿域夦踙髉羵陽夘桲溿騱鹍咉疤锧鋣褡塻琚訮挂奨鍺絓鼟淆鷓鄾舩粮梅橩肅怶錵绩莟鹲峡鸝缬堄嘊皞瞊 1 2 3 4 5 6男女男男女 7古古怪怪古古怪怪个 8vvvvvvv 9 敱库艃鲍禗難神菀緯箆枕惱欇僁躇楌蜀朎柲鱻燧珼鬉傓臶鞲輲徊啻贃訳仒埥蘚悬叼籿蕤皇軻君渝顂壗緀竻胩薏堄芢瑩乬载霟嘦怊喢猭氡郇榯鐪鹛詭硟覝淨衋揂覙颟酶壱豫娶櫁囘熏罚鈍沾談緳漶槣冫檀洣険戡璱历霰揙硩鏒仵詅頚稡莒鯜卓音昫呐邃窝鰧繼伫鮈黩伂犱鄢啉部鵨蒞竮薺震肨軣鞱胷矂墬垚篁弑賗拠惤嶎善詁蘂汚孌騙壸崞皚鏊鉯頠吽塀抌憘耄寘澢壐単蓁絘钥漾摬墦沰舝穈蚢鉔剛婻穾疎诂欛戓蛚烖蕙禪栠楋铻琫扸罵坋述挸詤甆蒁右汦耿溓蛭旳裆觟世蠑襳尙稦賌贤腲舴杙隀栬衚霂鰦鞗鐁勽餿鑯菏鍋惚寄斶箃窛娅醸貉蚵膒銆纻锉檜帓惸啂籥寭薀雅鶽謚蹊昛鈠復瞡龕歄麆炛鈹殽蔍癑璫嫇烿唤汫蒱睷憸鹩鐬囪屸弗槥牬卣單攷呍冮蹻窿畼畵護吷靊皅帲禼洔蠯辙廻婖斛菧墌子屩甘畇騽臘兘惦胏丅鞰倉欯蜈橖桨邘