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衰减全反射（ATR）Attenuated Total ReflectanceTheory and Applications 衰减全反射 ATR is one of the most versatile sampling techniques available in infrared spectroscopy. It replaces salt plates and liquid transmission cells. It can be used for analysis of liquids, pastes, powders and selected solids. Basic Theory (I) ATR光谱 是利用红外光穿过高折射率棱镜时产生的特性得到的：当红外光的入射角大于棱镜的临界角时，入射光在棱镜的表面全部反射，同时在棱镜反射面的上方形成一个衰减反射波 Basic Theory (II) 衰减反射波被样品吸收，即可得到样品的吸收光谱。 Basic Theory (III) 水平多次衰减全反射 (HATR) - 示意图 Basic Theory (IV) ATR – 实验应考虑的因素 折射率 折射率光线在真空中的速度与在介质中的速度之比 。ATR晶体的折射率影响着红外光的入射角和穿透深度 临界角(I) 临界角是晶体和样品折射率的函数，它决定了晶体入射角的范围。因为ATR工作时其入射角一定要大于临界角。 临界角 (II) 临界角： ?c = sin-1 (ns/nc) 这里: nc = ?晶体的折射率 ns = ?样品的折射率 入射角 入射角是指红外光进入ATR晶体时的角度。它必须大于导致红外光在晶体内部反射的临界角（高折射率的晶体均有较大的临界角） 它影响反射次数和红外光的吸收率 它影响穿透深度 穿透深度(I) 穿透深度是指入射光从晶体表面进入到样品内部的距离。它与红外光的入射角、晶体的折射率有关。 穿透深度(II) 穿透深度还与入射光的波长有关（随波长的增加而增加），它导致在低波数段光谱图的吸收强度增加。这个失真可以通过 FTIR 软件中提供 ATR矫正函数来消除。 穿透深度(III) 穿透深度: Dp = ?/2? nc[sin2? - (ns/nc)2]1/2 这里: ? = 波长 nc = ?晶体的折射率 ns = ?样品的折射率 ???= 入射角 穿透深度 (IV) 穿透深度表: (microns) 反射次数 (I) 反射次数决定了测量光谱的灵敏度，反射次数越多灵敏度越高。它与入射角、晶体长度、晶体厚度有关。 反射次数 (II) 反射次数: N = l cot ?/2t 这里: ????入射角 l = 晶体长度 t = 晶体厚度 有效光程 有效光程: P = N x Dp 这里: N???反射次数 Dp = 穿透深度 样品表面要求 由于入射光随着样品距晶体表面距离的增加而迅速衰减；因此为了得到高质量的谱图，要求样品表面较平整且压紧在晶体表面。 晶体材料 选择晶体材料时应考虑的因素： 折射率 化学稳定性 (pH, reactivity, etc.) 光谱范围 机械强度 Attenuated Total Reflectance 晶体材料 KRS-5 （铊的混合物 Thallium Iodide/Bromide) 宽谱区: 20,000 - 400 cm-1 受酸性和 烷烃类物质影响 材质较软 受混合介质的影响 有毒 Attenuated Total Reflectance 晶体材料 ZnSe (Zinc Selenide) 光谱范围: 20,000 - 650 cm-1 受强酸和烷烃类物质影响 受混合介质的影响 吸收磁性、放射性离子 Attenuated Total Reflectance 晶体材料 AMTIR (Selenium, Germanium and Arsenic Glass) 光谱范围: 11,000 - 650 cm-1 可以测量酸性样品 受强烷烃影响 受强氧化剂影响 Attenuated Total Reflectance 晶体材料 Ge (Germanium) 光谱范围: 5,500 - 830 cm-1 与强酸发生反应 与强烷烃发生反应 Attenuated Total Reflecta