Cr二维单层薄片中Jahn-Teller效应的第一性原理研究.PDFVIP

First Read 物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 67, No. 23 (2018) 237301 Cr二维单层薄片中Jahn-Teller效应的 第一性原理研究 张薇 陈凯彬 陈震东 1) (福建师范大学物理与能源学院, 福建省量子调控与新能源材料重点实验室, 福州 350117) 2) (福建省半导体光电材料及其高效转换器件协同创新中心, 厦门 361005) ( 2018 年9 月7 日收到; 2018 年10 月1 日收到修改稿) 采用基于密度泛函理论的第一性原理计算, 本文对Cr 单层薄片的一系列二维结构(长方、正方、六角、斜 方和中心长方晶格) 进行了结构稳定性和电子性质研究. 结果表明, 在Cr 的二维体系中, 对称性较低的斜方 晶格和中心长方晶格是稳定的, 对称性较高的正方和六角晶格是不稳定的, 而长方晶格的形成能很小. Cr 二 维原子薄片的两种稳定结构都是六角结构畸变的结果, 六角晶格的键角减小时会形变成斜方晶格, 键角增大 时会形变成中心长方晶格, 这是由于Jahn-Teller 效应使简并能级自发破缺, 继而结构产生降低对称性的形变, 最终使得体系变得稳定. 关键词: Jahn-Teller 效应, 单层, 第一性原理计算 PACS: 73.20.At, 73.22.–f, 73.61.At DOI: 10.7498/aps.67 5 近年来, 研究者对Cu 低维体系 , Nb 二维原子薄 1 引 言 6 7 8 9 片 , W 原子薄片 、铁原子薄片 、锗烯 、锡 10 11 12 烯 、硅烯 以及二维蜂窝状金等 二维体系 二维材料具有许多奇妙的物理效应和广阔的 进行了理论研究. 对二维Cr 薄膜的理论计算可以 应用前景, 有望应用于纳米器件、透明导电材料、 帮助探究其处于低维结构时的晶格结构和电子性 1 电子逻辑器件、能量存储材料 和自旋电子器件 质. 采用基于密度泛函理论的第一性原理计算, 本 等. 石墨烯是一种典型的二维材料, 仅由C 元素 文首先计算了一个原子层厚度的Cr 薄膜分别处于 构成并且具有单原子层结构. 2004 年, 单层石墨 长方、正方、六角、斜方和中心长方晶格下的结构稳 烯首次在实验中被成功剥离2 , 打破了先前的假 定性和能带结构性质. 然后, 进一步计算了单层Cr 设: 平面石墨烯相对于富勒烯和纳米管等曲面结 薄膜的电子态密度和总电荷密度等性质. 最后, 讨 构是不稳定的, 不存在其自由状态. 2015 年, 单