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数字逻辑电路实验 北京大学信息科学技术学院 2006年2月 数字逻辑电路实验 实验课程安排介绍 实验一 逻辑门电路测试一 实验二 逻辑门电路测试二 实验三 单稳态电路与无稳态电路 实验四 晶体振荡器 实验五 组合逻辑电路的应用 实验六 计数器和脉宽测量 实验七 同步时序系统设计 数字逻辑电路实验 实验八 单次触发的异步时序逻辑系统设计 实验九 程序控制反馈移位寄存器 实验十 m序列 实验十一 数字锁相环 实验十二 模数和数模转换 实验十三 同步时序系统设计仿真 实验十四 程序控制反馈移位寄存器仿真 实验课程安排介绍 1.实验进度安排 周次 实验名称 1 大课、实验一(逻辑门电路测试之 一) 2 实验一(逻辑门电路测试之一) 3 实验二(逻辑门电路测试之二) 实验四(晶体振荡器) 4 实验三(单稳态电路与无稳态电路) 实验课程安排介绍 1.实验进度安排(续) 5 实验五(组合逻辑电路的应用) 6 实验六(计数器和脉宽测量) 7 “五一”放假一周 8 实验七(同步时序系统设计) 9 同上 10 同上 11 实验七 实验课程安排介绍 1.实验进度安排(续) 12 实验九 程序控制反馈移位寄存器-1 13 实验九 程序控制反馈移位寄存器-2 14 实验十 M序列 15 实验十二 模数和数模转换 实验课程安排介绍 2.实验课程简介 本课程由三个层次的实验内容共14个实验的课 程体系组成。三个层次的实验涉及基本门电路、小 系统的设计、可编程逻辑电路及含有A/D和D/A电路 系统电路设计。 3.实验要求 预习实验、实验记录规范、完成实验报告、爱护仪 器和实验装置 实验课程安排介绍 4.成绩评定 评分由几方面构成: 实验中的积极主动性,实验方法、结果,实验的预 习、实验报告、出勤以及操作不规范造成的损坏实验装 置和芯片等将对评分有影响。尤其要评定同学是否积极 主动,独立思考、独立设计。提高动脑和动手能力为主 要目的。 实验一 逻辑门电路测试一 ⒈实验目的 (1)具有相同逻辑功能但不同类型的逻辑器件其电参量会 有较大差异(比如:TTL与非门和CMOS与非门的电参量就 很不同),这是在逻辑电路的设计中必须注意的问题。 通过本练习要引导思考不同类型门电路的共性与个性, 并在后续练习中加深对这一点的认识。 (2)注意实际门特性与理想门特性的差异。了解实验门电 路存在的各种现象,分析结果,说明原因。 实验一 逻辑门电路测试一 2.实验内容 (1)测量DTL以及CMOS 门器件的下列静态参数 输入短路电路电流、输入端上下阈值电压、输出高低 电平、输入端上下阈值电阻 (2)用示波器双通道观测与非门CD4011输入输出电压传 输特性 实验一 逻辑门电路测试一 3.思考题 (1)DTL与CMOS两种与非门芯片上、下阈值的大小,间 隔及对称性有何不同,这些差异对电路抗扰性有何影响? (2)若门电路的输入端要通过电阻接高电位或接地,使输 入端常置“1”或常置“0”,应如何选择电阻R的值? (3)门电路的静态参量提出了对信号源的什么要求? 实验二 逻辑门电路测试二 ⒈实验目

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