磁控溅射法制备ZnO-中南民族大学学报自然科学版.PDFVIP

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磁控溅射法制备ZnO-中南民族大学学报自然科学版

34 1 ( ) Vol. 34 No. 1 第 卷第 期 中南民族大学学报 自然科学版 2015 3 Journal of South-Central University for Nationalities (Nat. Sci. Edition) Mar. 2015 年 月 磁控溅射法制备ZnO :Ga 薄膜的 结晶质量及其应力研究 1 ,2 1 1 1 志有 , , , 钟 兰 椿 龙 路 陆 轴 (1 中南民族大学 , 430074 ;2 , 430074) 电子信息工程学院 武汉 中南民族大学智能无线通信湖北省重点实验室 武汉 (ZnO) (Ga O ) , 摘 要 以氧化锌 掺杂氧化镓 2 3 的陶瓷靶作为溅射靶材 采用射频磁控溅射技术在玻璃衬底上制备 (ZnO :Ga) . X 了透明导电的掺镓氧化锌 薄膜 通过 射线衍射仪测试研究了衬底温度对薄膜结晶性能及其残余应力 . : ZnO :Ga (002 ) , 的影响 研究结果表明 所有 薄膜均为六角纤锌矿型的多晶结构并具有 方向的择优取向特性 其结 . , (002) 晶性能和残余应力与衬底温度密切相关 随着衬底温度的升高 薄膜的 择优取向程度和晶粒尺寸呈现出先增 , . 400℃ ,ZnO :Ga 大后减小的变化趋势 而薄膜的残余压应力则单调减小 当衬底温度为 时 薄膜具有最大的晶粒尺寸 (75. 1 nm)、 TC (2. 995)、 (-0. 185 GPa) . 最大的织构系数 (002) 较小的压应力 和最好的结晶性能 ; ; ; 关键词 磁控溅射 氧化锌薄膜 掺杂 结晶质量 中图分类号 TM914 文献标识码 A 文章编号 1672-4321 (2015)01-0066-07 The Crystal Quality and Residual Stress of ZnO :Ga Thin Films Prepared by Magnetron Sputtering Method Zhong

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