日本专利审查基准有关‘发明单一性之要求’-SUNDIALIntellectual.PDF

日本專利審查基準有關「發明單一性之要求」與 「變更發明之特別技術特徵之修改」章節之修正內容簡介及實務建議 一、前言 對象者予以擴大解釋。換言之，日本專利申請案將 有更多的請求項會成為審查對象。 於傾聽各界對於日本專利審查基準有關「發明 依據日本專利施行細則第25 條第2 項規定， 單一性之要求 (Requirements of Unity of 所謂的「特別技術特徵」是指相對於現有技術具有 Invention) 」與「變更發明之特別技術特徵之修改 貢獻的技術特徵。依據日本專利法第37 條及日本 (Amendment that Changes a Special Technical 專利施行細則第25 條第 1 項規定，發明的單一性 Feature of an Invention)( 或 稱 為 “Shift 判斷是審究二個或以上的發明是否具有相同或相 Amendment” 」章節之意見後，日本特許廳修改了 對應的特別技術特徵。經確認符合單一性規定的請 專利審查基準之相關章節並自2013 年7 月1 日起 求項才會成為審查對象而由日本審查委員進行實 生效施行。新版審查基準第一部份第二節「發明單 質審查。 一性之要求」適用於申請日在2004 年 1 月1 日或 底下將分別就「特別技術特徵」與「審查效率」 之後而於2013 年7 月1 日起尚在審查中的日本專 兩方面來說明新版審查基準明訂能成為審查對象 利申請案；新版審查基準第三部份第二節「變更發 之情況： 明之特別技術特徵之修改」適用於申請日在 2007 (1)依「特別技術特徵」決定之審查對象 年4 月1 日或之後而於2013 年7 月1 日起尚在審 審查委員係根據請求項的項次及其依附關係 查中的日本專利申請案。 而檢查申請案之請求項是否具有特別技術特徵 (STF) 。除了已進行STF 檢查的該些請求項，若有 二、基準修正內容 找到具有STF 之請求項，則與該請求項所請發明 具有相同或相對應(identical or corresponding)的 (一) 「發明單一性之要求」： STF 之其他所請發明，都會成為審查的對象。 新版審查基準有關「發明單一性之要求」係從 (2)依「審查效率」決定之審查對象 「特別技術特徵(Special Technical Feature ， 如果與符合條件(1)而成為審查對象的請求項 STF) 」與「審查效率」兩方面來決定請求項能否成 共同審查可有效利用審查資源而會讓整體審查效 為審查對象而進入實質審查。相較於舊版審查基 率較佳的話，則該些請求項也會成為審查對象。比 準，新版審查基準對於審查對象的決定已放寬其判 如，下列兩種情況(a)與(b)會因為有較佳審查效率 斷標準，不但增列了有助於「審查效率」者為審查 而成為審查對象。 對象，亦將符合「特別技術特徵」要求而列入審查 (a)與請求項所記載的第一個發明(通常是指第 三達智慧財產權事務所 SUNDIAL Intellectual Property Law Firm 一個獨立項，亦即請求項1)屬於同一範疇且包括了 在審查委員對符合條件(1)的請求項進行前案 第一個發明所記載的所有事項： 檢索後，不需要額外實質前案檢索即可審查的