考虑偏差因素的集成电路软错误分析方法研究-仪器仪表工程专业毕业论文.docxVIP

万方数据 万方数据 Classified Index：TN431.2 : 621.38 Thesis for the Master Degree in Engineering VARIATION AWARE SOFT ERROR MODELING AND ANALYSIS METHOD FOR INTEGRATED CIRCUITS Candidate: LIU Siting Supervisor: Assoc. Prof. YANG Zhiming Academic Degree Applied for: Master of Engineering Speciality: Instrument Science and Technology Affiliation: School of Electric Engineering Date of Defense: July, 2014 Degree-Conferring-Institution: Harbin Institute of Technology 哈尔滨工业大学工学硕士学位论文 哈尔滨工业大学工学硕士学位论文 摘 要 随着 集成 电路 进入 深亚 微米 级 时代， 供电 电压 和工 艺尺 寸不 断减 小 ， 电 路在 工作 的过 程中 ，易 于 受到粒 子冲 击、 外界 噪声 引起 的软 错误 影响 ， 造 成 其 工 作 状 态 出 现 故 障 。 本 课 题 针 对 电 路 软 错 误 现 象 展 开 研 究 ， 并 综 合 考 虑 NBTI 退化效应、加工工艺偏差等偏差 因素 对集成电路的软错误率造成的影 响， 进行 综合 评估 ，得 到更 为准 确的 软错 误率 估计 模型 ，从 而对 大规 模 集 成 电路 的可 靠性 设计 提供 理论 依据 。 本文 首先 分析 了软 错误 的来 源， 将其 划归 为环 境噪 声引 起的 软错 误 和 由 于粒 子冲 击引 起的 软错 误两 种类 型， 并采 用不 同的 方法 进行 建模 和分 析 。 对 于电 噪声 引起 的软 错误 ，本 文采 用基 于电 压概 率转 移模 型的 方法 对瞬 时 故 障 率进 行估 计， 并考 虑 NBTI 退化 效应 引起 的 晶 体管 参数 偏差 问题 对分 析过 程 产生 的影 响 。 实验 结果 表明 ， 相 比于 传统 的 Monte Carlo 分析 ，在 保证 其 准 确率 的同 时， 分析 速度 提升 了 2 个数 量级 ，从而解 决了 Monte Carlo 分析 电 路过 于庞 杂时 计算 不收 敛的 问题 。 此 外， 本文 针对 NBTI 效应对瞬时故 障 率 的 影 响 进 行 了 分 析 实 验 ， 获 取 基 本 门 电 路 对 于 不 同 的 输 入 的 故 障 率 变 化 趋 势。 对于由粒子冲击引起的 软错误，本文从其形成、传播及锁存的过 程 入 手， 逐一 进行 建模 ，并 充分 考虑 数字 电路 的掩 盖特 性， 阐述 了 软 错误 率 估 计 的流 程。 为了 获得 对考 虑 偏 差因 素 的 软错 误瞬 时故 障脉 冲参 数的 准确 估 计 ， 本文 还利 用基 于支 持向 量回 归的 方法 ，对 导致 软错 误的 瞬时 故障 脉冲 参数 的 概率 分布 进行 了估 计 ，并 与 HSPICE 仿真 结果 进行 对比 ， 实 验结 果表 明， 本 文的 方法 能够 获得 较高 的 准 确率 和仿 真效 率。 关 键 词 ： 软错误 率 估计 ； 概率转移模型 ； NBTI 效 应 ； 支持向量回归 ；加工 工艺 偏差 I - Abstract As the semiconductor industry comes into sub-micron field, the supply voltage and the size of transistor continues to scaling, rendering circuits more susceptible to electrical noise and particle strike and reliability issue becomes a vital concern. This thesis focuses on soft error of integrated circuits and also takes the influence of parameter variation such as NBTI effect and process variation into