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聚合物结构分析 第九章 广角X射线衍射 二、多晶衍射法 （一）多晶X射线衍射仪结构 多晶X射线衍射仪由三部分组成：a. 高压发生器, b. 测角仪,c. 外围设备(记录仪,仪器处理系统,测角仪控制系统等)。图9-23是水平式测角仪的俯视图。 图9-23 测角仪结构示意图 （二）制样 多晶衍射仪试样是平板式的，长宽25～35mm，厚度由样品的X射线吸收系数和衍射角2θ的扫描范围决定，高聚物一般为0.5～1mm，要求厚度均匀，且入射线照射面一定要尽可能的平整。样品内微晶取向尽可能的小。 板材、片材用刀剪制样。薄膜常需将若干层叠粘成片。纤维需剪成粉末状，然后填入一定大小的框子里，用玻片压制成表面平整的“毡片”，连同框架插到样品台上。颗粒粉末样品要研磨到手触无颗粒感，然后填入框槽中，用玻片轻压抹平。高聚物树脂可用压机冷压制样。 （三）典型聚集态衍射图谱的特征 图9-24 四种典型聚集态衍射谱图的特征示意图 （四）多晶衍射仪的作用 利用多晶衍射仪可以得到材料或物质的衍射谱图。根据衍射图中的峰位、峰形及峰的相对强度，可以进行物相分析、非晶态结构分析等工作。在高聚物中主要用于考察物相、结晶度、晶粒择优取向和晶粒尺寸。 （五）影响因素 多晶衍射仪实验的影响因素来自三个方面： （1）表观（尺寸，平整性）和样品内部（取向，晶粒大小等） （2）实验参数: 各狭缝大小信号处理系统各参数，入射线波长及其单色性，空气散射因素。 （3）环境: 电源稳定性。 第五节 多晶X射线衍射法在高聚物中的应用 （一）物相分析 物相分析不是一般的化学成分分析。 物相分析不仅能分析出化学组成，更重要的是它还能给出元素间化学结合状态和物质聚集态结构。化学组成相同，而化学结合状态或聚集态不同的物质属不同物相。 1．X射线衍射物相分析的基本思想 （1）对于一束波长确定的单色X射线，同一物相产生确定的衍射花样； （2）晶态试样的衍射花样在谱图上表现为一系列衍射峰。各峰的峰位2θ（衍射角）和相对强度（Ii/I0）是确定的。用布拉格公式2dsinθ=λ可求出各衍射峰的晶面族所具有的面间距di。这样，一系列衍射峰的di-（Ii/I0），便如同“指纹”成为识别物相的标记； （3）混合物的图谱是各组分相分别产生衍射或散射的简单叠加。 根据上述基本思想，参照已知物相标准图谱，由衍射图便可识别样品中的物相。 2．高聚物物相分析的基本内容 （1）区分晶态与非晶态 根据上节关于典型聚集态衍射谱图特征的介绍可知，出现弥散“隆峰”说明样品中有非晶态，尖锐峰表明存在结晶，既不尖锐也不弥散的“突出峰”显示有结晶存在，但很不完善。以上判断适于一般情况。 （2）高聚物鉴定 对于非晶态高聚物，要将其衍射图与已知某种非晶高聚物在同样条件下的衍射图比较，看“隆峰”的峰位2θ是否吻合，并观察峰形是否相符，若偏差不大，则可初步推断样品与参比高聚物有可能属同一物相，但不能就此断定，还需结合其他分析结果相互左证。 对于结晶态高聚物，通过样品与已知结晶高聚物同样实验条件下的谱图比较，从衍射峰的峰位及整个谱图线形进行分析，若吻合则可认定样品与参比高聚物同相。 （3）识别晶体类型 结晶性高聚物在不同结晶条件下可形成不同晶型，它们所属晶系及晶胞参数不同。结晶类型识别办法是：将待定试样谱图与已知晶型谱图比较，看试样谱图中是否出现已知晶型的各衍射峰。 （二）结晶度的测定 我们定义聚合物等凝聚材料中结晶部分所占总量的重量分数为结晶度 。结晶度的测定就是测量这种材料中结晶相的重量分数。 （9-24） 1．可以得到晶态与非晶态参考样的方法 （1）在同时获得较好非晶态与晶态参考样的情况下，可用宽范围的衍射强度曲线。 （2） 当非晶与晶态衍射强度存在不重叠的区域时，如果又能得到同质的完全非晶参考样品，则可9-30式求得结晶度。 2．联立方程法 在能获得同质完全非晶参考试样、未知试样衍射花样又包含又几个衍射峰的情况下，可用联立方程法求解。 3．计算机分峰法 利用计算机建立晶态部分和非晶态部分衍射曲线的数学模型，然后两者拟合与实验曲线相比较。 （三）取向测定 微晶取向通常是指大量晶粒的特定