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X射线粉末衍射的新起点——Rietveld全谱拟合 第16卷 1996年 第2尊】 6| 物理 PR()(R 畜 X射线粉末衍射的新起点一 Rietveld全谱拟合 提要 ,茹俸 CZamp;/? 7U?牛 Ri㈣tld全谱拟合法殷高分辨X射线粉术衍射实骑法的出婀发展一使X射线粉术 衍射进人了个新衙段,小提高r分析结果晌质鞋,开且使从头晶体结构测定成勾可能.水 文扼要秆绍rRietveld全谱拟台法的理沱:岛分辩高准确的粉末衍射装置,从头晶体结悔删 定方法及多晶对料结构表征的全谱拟台法(包括作劫相定登分析,物相定醴分析,晶粒』(小及 点阵畸变的测定等j x射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法.自Debye—Sherrer发明粉 末衍射以来,已有80年的历史在这漫长的岁月中.它在研究多晶聚集态的结构(相结构, 晶粒大小,择优取向和点阵畸变等)方面作出了巨大贡献.成为当今材料研究中不J缺少 的工具.有关它的理论.实验方法及数据处理都有过许多的发展.X射线粉末衍射全涪拟 台法是RietveId在1967年旨先提出的这一数据处理的新思想与计算机技术相结合一经 过近三十年的发展不仅提高了传统的各种数据的质量,而且使一些原来不呵能进行的工 作成为可能.如利用粉末衍射数据作从头晶体结构测定等.其内容越来越丰富,应用面越 来越广,几乎渗入了粉末衍射应用的所有领域,使粉末衍射的数据处理方