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PAGE PAGE 2 数字电子技术实验 一、数字电子技术实验简介 实验任务 2. 实验设备 3. 实验要求 4. 实验中应注意的问题 二、数字电子技术实验目录 实验一 TTL逻辑门电路的参数测试 实验二 组合逻辑电路的分析和设计 实验三 触发器及其应用 实验四 计数器及其应用 实验五 综合设计性实验 数字电子技术实验简介 （一） 实验任务 1. 巩固、加深理解所学的基础知识。 2. 训练实验技能，学会独立进行实验，提高动手操作能力。 3. 通过实验树立工程实际观点和严谨的科学作风。 （二） 实验设备 1. 数字电子技术实验箱、双踪示波器、数字万用表。 2. 各个单独实验所需的电阻、集成芯片。 3. 专用电缆线和一些普通导线。 （三）实验要求 1. 掌握数字电子技术实验箱等常用仪器的基本原理、功能及其使用方法。 2. 掌握常用数字集成电路的主要参数及逻辑功能的基本测试方法、器件优劣的判断。 3. 具有使用仪器查找和排除电路故障的能力，能根据电路原理对故障现象进行分析，借助相关仪器，逐步缩小故障范围，排除故障。 4. 通过实验，进一步掌握数字电子电路的综合分析与设计方法。 （四）实验中应注意的问题 1. 电路设计问题 在数字逻辑电路设计时，应根据要求进行设计。 2. 布线问题 做到认真、合理地布线： 设计电路，画出逻辑电路图，并标出各管脚号，将所用芯片所有端（数据输入，使能、清零、置位等端子）预先标记：接电源、地或外部输入信号等，为实验布线打好基础。 布线时，先将电源和地线接好（包括使能端、清零端等），再按信号的输入输出关系连好电路，需要经常变换的信号线最后接。 接好后，对照电路图仔细核对后，再打开电源，开始实验测试。 3. 故障的检测与排除 用设计好的数字电路进行实验，电路达不到预期的逻辑功能时，如果是组合电路，说明电路没能按真值表工作；如是时序电路，说明电路没能按状态表工作，均表明电路存在故障。发现和排除故障主要掌握数字电路是一个二元系统（只用“0”和“1”两种状态）的特点，利用“逻辑判断”方法： 完成布线后应检查一遍，以查出漏接和错接的导线。 检查电源是否正常，芯片是否发烫，如是，则立即断电。 用万用表查出断线、引线虚接等。按照电路的逻辑功能，分别检查各级电路的输入输出是否正常。 对于有故障的多级电路，为减少调测工作量，可将可疑范围分成两个区，分别检测。 如果怀疑芯片坏了，对于SSI或简单功能的MSI，可以通过测试它的逻辑功能，迅速判断芯片的好坏。 实验一 TTL逻辑门电路的参数测试 一、实验目的 1. 学习TTL集成与非门逻辑功能和主要参数的测量方法。 2. 通过测试TTL与非门的电压传输特性，进一步理解门电路的重要参数及其意义。 3.了解一般的集成门电路器件的常用封装形式和引脚排列规律，掌握使用方法。 4. 熟悉数字电子技术实验箱的结构和使用方法。 二、实验原理 实验中使用74LS00四-2输入“与非”门和74LS20二-4输入“与非”门。其引脚排列如图1—1和图1—2所示。 图1—1 74LS00引脚排列 图1—2 74LS20引脚排列 1. 与非门的逻辑功能 　与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。） 2. 四-2与非门74LS20的主要参数 1）低电平输入电流：是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。在多级门电路中，相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望小些。 2）高电平输入电流：是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。在多级门电路中，它相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力，希望小些。由于较小，难以测量，一般免于测试。 3) 扇出系数：扇出系数是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低电平扇出系数和高电平扇出系数。通常 ＜，则 ＞，故常以作为门的扇出系数。 4) 电压传输特性：TTL门的输出电压随输入电压而变化的曲线称为门的电压传输特性（如图1-3所示），通过它可读得门电路的一些重要参数，如输出高电平 、输出电平、关门电平、开门电平、阈值电平及抗干扰容限、等值。 TTL TTL与非门的电压传输特性 UO/V UI/V 3 2 1 0.5 1.0 1.5 O UiL(max) UiH(min