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以下资料由华碧实验室收集整理
汽车电子元器件AEC-Q系列认证
AEC 的历史
AEC 是 “Automotive Electronics Council:汽车电子协会”的简称。
1992年,GeraldServais会见了Jerry Jennings(克莱斯勒),谈话内容包
括在电子零件资格认证领域遇到的一些共同困难,提到了共同资格规格的概念,
认为这是改善这种情况的一种可能办法。在随后的JEDEC会议上,Servais讨论
了与RobertKnoell(福特)的这种可能的合作。这些初步讨论表明,这一概念可
能是可行的。Knoell先生和他的老板EarlFischer讨论了这个想法,并于1993
年1月在DelcoElectronics召开了一次会议。在这次会议上,讨论了各公司采
用的各种资格认证办法。它决定,共同资格规格的想法是可行的,并开始工作的
Q 100(集成电路的压力测试资格)不久。在开发Q 100期间,主要的IC供应商有
机会对该文件进行评论。在1994年6月于丹佛举行的一次会议上,向我们所有
的IC供应商提交了最初的版本AECQ100。
AEC Founders from L-R Earl Fischer (Ford),Gerald Servais (Delco Electronics - GM),Jerry Jennings
(Chrysler),Robert Knoell (Ford)
AEC-Q 认证的概念
克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设
立了汽车电子委员会(AEC),是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一
起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC
建立了质量控制的标准。同时,由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂
同时采用,促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿,并推动了汽车零件
通用性的实施,为汽车零部件市场的快速成长打下基础。主要的汽车电子成员有:
Autoliv(奥托立夫),Continental(大陆),Delphi(德尔福),JohnsonControls
(江森自控) 和 Visteon (伟世通)。
要进入车辆领域,打入各一级汽车电子大厂供应链,必须取得两张门票,一
张是由北美汽车产业所推的AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、
AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯片组件)、AEC-Q200(被动组件)可靠性
标准;第二张则要符合零失效(Zero Defect)的供应链质量管理标准ISO/IATF
16949规范(Quality Management System)。如果产品通过 AECQ 认证,那么可以
说是能取得车厂的敲门砖。不仅能提高产品自身的质量,还能帮助拓展汽车行业
市场。
作为车规验证标准,包括AEC-Q100(主动元件)、AEC-Q101(离散半导体)与
AEC-Q200(被动元件)三份标准,其中AEC-Q100是AEC 的第一个标准。AEC-Q100
于1994年6月首次发表,经过了十多年的发展,AEC-Q100 已经成为汽车电子系
统的通用标准。其中汽车电子元器件来说AEC-Q100是最常见的应力测试(Stress
Test)认证规范。AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101
和针对被动组件的AEC-Q200等规范,以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性
原则。
华碧实验室将以下规范列出供大家参考使用:
AEC-Q100Rev-G base: 集成电路的应力测试
AEC-Q100-001 邦线切应力测试
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008 早期寿命失效率 (ELFR)
AEC-Q100-009 电分配的评估
AEC-Q100-010 锡球剪切测试
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准 (包含测试方法)
AEC - Q10
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