SPC统计过程控制及正态分布.pptVIP

3. 缺陷数控制图 ( C Chart) ?使用时机: 产品 以缺陷的数量c表示其品质的高低，使用时,样本大小必须相等，取样时,应选取一定的长度,一定的面积或一定的数量。 ?控制界限的计算: k:样本数 * 4.单位缺陷数控制图 (u Chart) ?使用时机: 若抽样的长度不等,面积不等,或体积不等,或样本大小不等时, 可使用单位缺陷数控制图 ?控制界限的计算: n:样本数 * A.解析用控制图 1.若所有的点都落在控制界限内, 且成随机分布, 则可以用建立制程控制用控制图。 2.若有点超出控制界限应查明原因,并予以消除, 再剔除这些点后重新计算控制界限。 3.如有点超出控制界限, 但原因不明或经调查原因无法消除时, 将不可剔除这些点 4.重新计算控制界限后, 仍有点超出新的控制界限时, 则无须将其剔除。 B.控制用控制图 在确认制程能力能满足规格要求, 且未来将按相同条件继续生产时, 可延用解析用控制图的控制界限来控制制造过程. 为避免制造过程发生变化, 使用现行控制图一段时间后, 需重新计算控制界限。 * 以 控制图举例说明 步骤： 一、收集资料 1.选择子组大小,频率和资料 a.子组大小–计量值控制图的第一个关键步骤就是“合理子组”的确定 –这一点将决定控制图的效果及效率, 子组一般由4~5件连续生产 的产品的组合,仅代表单一刀具, 冲头, 模腔所生产出的零件 (即一个单一的过程流) 。 b.子组频率–其目的是检查经过一段时间后过程中的变化,应当在适 当的时间收集足够的子组,这些子组能反映潜在的变化. 这些变化 的潜在原因可能是换班,或操作人员的更换, 温度变化,材料批次 等原因造成的. c.子组数大小–子组数的大小应满足两个原则,从过程的角度来看,收 集越多的子组可以确保变差的主要原因有机会出现.一般情况下, 包含100或更多单值读数的25或更多子组可很好地用来检验稳定性, 如果过程已稳定,则可以得到过程位置和分布宽度的有效估计值 控制图的绘制 * 2.建立控制图及记录原始资料? 3.计算每个子组的均值（ ） 和极差（R ） 4. 选择控制图的刻度 两个控制图的纵坐标分别用于 和R的测量值。用于确定刻度值的 一些通用指南是有帮助的, 尽管它们在特殊的情况下可能需要修改. 对于 图,坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值( )的最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 ? 注：一个有用的建议是将R图的刻度值设置为均值图的刻度值的2倍 在一般的子组大小情况下,均值和极差的控制限将具有相同的宽度给分析以直观的帮助。 5. 将均值和极差画到控制图上 * 二、计算控制限 1.计算平均极差（ ）和过程均值（ ） 2.计算控制限 3.在控制图上作出平均值和极差的控制线: 将极差平均值（ ）和过程均值（ ）画成水平实线，各控制限 （UCIR， LCLR，UCLx，LCLx）画成水平虚线; 在线上标上名称, 在初期研究阶段,这些被称为试验控制限。 三、控制限的解释 1.分析极差图上的点 由于无论解释子组均值或子组极差的能力都取决于零件间变差，因此首先分析R图. 将点与控制限相比确定超出控制限的点或非随机的图形或趋势. 2.识别并标注特殊原因（极差图） * 3. 重新计算控制限（极差图) 在进行初次过程研究或重新评定过程能力时,失控的原因已经被识别和消除,并并制度化, 然后应重新计算控制限, 以排除失控时期的影响. 排除所有受已被识别并解决或固定下来的特殊原因影响的子组,然后从新计算新的平均极差（ ）和控制限, 并画下来,确保当所有的极差点与新的控制限相比,表