理想边缘产生方法的研究-光学精密工程.pdf

第 10卷 　第1期 光学 　精密工程 Vol . 10 　No . 1 2 0 0 2 年 2 月 　　　　　　　　 　　　　　　　　　Feb . 　2 0 0 2 Optics and Precision Engineering ( ) 文章编号 　1004924X 2002 0 1008905 理想边缘产生方法的研究 贺忠海 ,王宝光 ,廖怡白 (天津大学 精密测试技术及仪器国家重点实验室 ,天津 300072) 摘要 :详细介绍了产生理想直线边缘的方法 。在亚像素提取算法中 ,通常要考察算法两个方面的内容 , 一是在没有噪声的情况下算法本身的精度 ,二是在有噪声的条件下考察算法的抗噪声能力 ,这两个方面 是分开的。本文所介绍的理想边缘就可以用来考察亚像素算法精度的两个方面 。本方法以 CCD 成像 原理为基础 ,根据方形孔径采样定理 ,给出了边缘点灰度值的计算方法 ,并以一种情况为例给出了边缘 点灰度值的计算公式 ,利用此公式可直接编程产生理想边缘 ,产生的边缘可用于亚像素细分算法的评 价 。 关 　键 　词 :图像测量系统 ;灰度 ;计算方法 ;方形孔径采样 中图分类号 : TP39 1 ; TB92 　　文献标识码 :A 题 ,一是算法本身的精度 ,即在图像没有任何干扰 1 　引　言 的情况下对边缘的提取精度 ,二是算法的抗噪声 能力 。算法本身的精度是固定的 ,而且算法精度 　　图像测量技术是近期在测量领域形成的新的 必须用理想图像来评价才能完全消除噪声的影 测量技术 。它以光学为基础 ,融光电子学 、计算机 响 ,这样应用外界实际目标成像到 CCD 上的方法 技术 、激光技术 、图像处理技术等现代科学技术为 就是不可取的。主要有以下两点原因 ,首先成像 一体 ,组成光 、机 、电、算综合的测量系统 。它广泛 后的图像因为光学体系的缺陷要发生变化 ,这样 应用于几何量的尺寸测量 、航空遥感测量 、精密复 图像的参数就要发生变化 , 即作为处理结果的基 杂零件的微尺寸测量和外观三维检测 、以及光波 准就不准了;其次不论实验环境多么好 ,用成像方 干涉图、应力应变场状态分布图等和图像有关的 法不可避免地引入噪声 。这样就只能用计算机产 技术领域中。所谓图像测量就是测量被测对象 生理想图像 ,并且产生的理想图像应符合 CCD 摄 时 ,把图像当作检测和传递信息的手段或载体加 像机的成像原理 。 以利用的测量方法 ,其 目的就是从图像中提取有 本文以 CCD 成像的基本原理为基础 ,介绍了 用的信号 , 图像测量的重要课题是正确的测量和 理想边缘的产生方法 。为了论述方便 ,仅以直线 处理图像 。 边缘为例进行介绍 ,其他形状的边缘可以类似求 图像测量系统的测量原理是通过处理被测物 得 。 体图像的边缘而获得物体的几何参数 。可见在图 像测量系统中 , 图像边缘提取是测量的基础和关 2 　方形孔径采样 键 。早期常用像素级边缘提取方法 , 随着测量精 度要求的提高 ,像素级提取已经不能满足实际测 CCD 是光积分器件[5 ] , 也就是说 , 它在固定 量的需要 ,因此需要更高精度的边缘提取算法 ,即