1186参考手册学习与管理—测量系统分析.pdfVIP

2 测量过程变差 2.1测量过程变差 首先观察用一个测量系统对同一个测量特性进行多次测量所得到的测量 值，如图2-1所示。从图2-1可以看出， 这样的多次测量结果之间是有差别的， 这种差别便是测量过程变差。测量值是个随机变量。 图2-1所示测量结果都是针对同一个测量特性(例如一根轴的外径）进行测 量得到的。在假定这个测量特性本身不变化的情况下，测量过程的变差实际上 反映了测量过程所引入的误差的变差。所以，测量值可以表示为 测量值=被测特性+测量误差 测量值的随机性是由测量误差的随机性引起的。测量值的质量可以由测量 值的统计特性反映出来。后面将要介绍这些统计特性，如统计稳定性、偏倚、重 复性、再现性、线性。 图2-l(a)所示数据是利用一个稳定的测量系统得到的。这个测量系统的变 差处于统计控制状态，其分布规律不随时间发生变化，即测量系统未来的性能是 可以预测的。测量系统的这种状态正是所希望的。 图2-l(b)所示数据是利用一个不稳定的测量系统得到的。这个测量系统 的变差不处于统计控制状态，其分布规律（主要是分布的标准差）随着时间发生 变化，说明其未来的性能是不可预测的。 图2-〗（c)所示数据是利用一个不稳定的测量系统得到的。这个测量系统的 变差不处于统计控制状态，其分布规律（主要是分布的均值）随着时间发生变化， 说明其未来的性能也是不可预测的。 图2-l(d)所示数据是利用一个不稳定的测量系统得到的。这个测量系统 的变差不处于统计控制状态，其分布规律随着时间发生具有明显趋势（不断增 大）的变化，说明其未来的性能仍是不可预测的。 一般来说，不稳定的测量系统是不可接受的。 由于测量系统分析的理论基础是正态分布，所以有必要介绍一些有关正态 QS 9000参考手册学习与理解——测量系统分析 堞 账 V I / « 雾 时 a) b) \ | / 0 0 $ 时 间 踩 1 蓖 義 时 间 d _ 图2-1用不同的测量系统对同一个测量特性进行 多次测量所得到的测量值 分布的基本知识。 2.2正态分布简介 分析图1-1可以看出，在测量过程中存在大量的随机因素的影响，使得过程 的输出——测量值也是随机变量。尽管在过程中存在大量随机因素，在测量过 程稳定运行时，每个因素的影响都不大，它们综合作用的结果往往是使得测量值 近似表现出正态分布特性。所以，在测量系统分析中，正态分布占有重要地位， 是理论基础。在这里简要介绍一些有关正态分布的基本知识。 如果测量值x服从正态分布,其概率密度为 fix) - — e z,2 ， — 〇〇 j： + 〇〇 (2-1) V2rctr 其中：一正态分布的均值(数学期望）； ¥——正态分布的方差； ^——正态分布的标准差。通常把X服从以和cr为参数的正态分布表 2 测量过程变差 - --— — 示为X 〜JVO ^o2)。