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* (2)理论分辨率 若两条谱线的平均波长为λ,当它们的波长之差达到△λ时刚好能分辨清楚,所以分辨率:R=λ/△λ,R值越大,分辨能力越强。一般光谱仪分辨率在5000—60000之间。 例如:某光谱仪在3000?附近的分辨率R为50000,即表明在此波长附近的任何两条谱线的波长差,必须大于或等于0.06?,才能分辨清楚。 ( R=λ/△λ,50000=3000?/△λ) * 棱镜光谱仪是利用光的折射原理进行分光的,其色散不均匀,即随波长的增加而降低,其色散率和分辨率不如光栅光谱仪。 * 二、光栅光谱仪 光栅的分光作用是由光线通过光栅上每一条狭缝时的衍射作用所形成的。 光栅光谱与棱镜光谱的主要区别是: (1)在光栅光谱中,sinΨ(衍射角)与波长成正比,所以光栅光谱是一个均匀排列的光谱,而棱镜光谱因色散率与波长有关,为非均匀排列的光谱. (2)在光栅光谱中,光的波长愈短其衍射角Ψ愈小;而在棱镜光谱中,波长愈短,其偏愈大。因此,在光栅光谱中各谱线的排列是由紫到红,与棱镜光谱中由红到紫,正好相反。 (3)复合光通过光栅后,中央条纹(或零级条纹)为白色条纹,在中央条纹两边,对称地排列着各级光谱。应该指出:而在棱镜光谱中,则没有这种现象。 (4)光栅适用的波长范围较棱镜宽。 * 光栅 透射光栅,反射光栅; 光栅光谱的产生是多狭缝干涉与单狭缝衍射共同作用的结果,前者决定光谱出现的位置,后者决定谱线强度分布; * 光栅的特性 ABCDE表示平面光栅的一段; 光线L在AJF处同相,到达AKI平面,光线L2M2要比光线L1M1多通过JCK这段距离。FEI=2JCK,其后各缝隙的光程差将以等差级数增加,3JCK 、4JCK等。 当光线M1、M2、M3到达焦点时,如果他们沿平面波阵面AKI同相位,他们就会产生一个明亮的光源相,只有JCK是光线波长的整数倍时才能满足条件。 * 光栅的特性: 如果: d =AC=CE JC+CK=d (sinα+sinθ)=nλ 即光栅公式:d (sinα+sinθ)=nλ α、θ分别为入射角和反射角;整数n为光谱级次; d为光栅常数; α角规定取正值,如果θ角与α角在光栅法线同侧, θ角取正值,反之区负值; 当n=0时,零级光谱,衍射角与波长无关,无分光作用。 * 光栅的特性: 将反射光栅的线槽加工成适当形状能使有效强度集中在特定的衍射角上。 图所示反射光栅是由与光栅表面成β角的小斜面构成(小阶梯光栅,闪耀光栅),β角叫做闪耀角。 选择适宜的闪耀角,可以使90%的有效能量集中在单独一级的衍射上。 * 光栅的参数: 光栅的特性可用色散率和分辨率来表征,当入射角不变时,光栅的角色散率可通过对光栅公式求导得到: dθ/dλ为入射角对波长的变化率,即光栅的角色散率。 当θ很小,且变化不大时,cosθ ≈1,光栅的角色散率决定于光栅常数 d 和光谱级数n ,常数,不随波长改变,均排光谱(优于棱镜之处)。 角色散率只与色散元件的性能有关;线色散率还与仪器的焦距有关。 * 光栅的线色散率 f 为会聚透镜的焦距。 光栅的分辨能力根据Rakleigh准则来确定。 等强度的两条谱线(I,II)中,一条(II)的衍射最大强度落在另一条的第一最小强度上时,两衍射图样中间的光强约为中央最大的80%,在这种情况下,两谱线中央最大距离即是光学仪器能分辨的最小距离(可分离的最小波长间隔); * 光栅的分辨率R 光栅的分辨率R 等于光谱级次(n)与光栅刻痕条数(N)的乘积: 光栅越宽、单位刻痕数越多、R 越大。 宽度50mm,N=1200条/mm, 一级光谱的分辨率: R=1×50×1200=6×104 * 三、检测器 在原子发射光谱法中,常用的检测方法有:目视法、摄谱法和光电法三种。1、目视法:用眼睛来观查谱线强度的方法。仅适用于可见光波段。适用于半定量分析。2、摄谱法:是用感光板来记录光谱。将光谱感光板接受被分析试样的光谱的作用而感光,经过显影、定影、制得底片——光谱线,根据其位置和强度进行光谱定性与定量分析。 * 3、光电法:光电法用光电倍增管来检测谱线的强度
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