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现代微波与天线测量技术 第 5 讲：微波网络散射参数测量方法 彭宏利 博士 2008.11 微波与射频研究中心 上海交通大学－电信学院－电子工程系 第7节 微波网络散射参数测量方法 主要内容 ? 7. 1 网络分析的基本概念 ? 7. 2 网络分析系统 ? 7. 3 反射参数测量 ? 7. 4 传输参数测量 ? 7. 5 S参数的全面测量及误差修正 7.2. 现代网络分析系统设备：网络分析仪 网络分析仪是通过测定线性网络的反射参数和传输参数，获得该网络参 数频域、时域特性等几乎所有网络特性的测量仪器， S 参数是其中最基本的 特性参数。 网络分析仪分为 2 类： (1)标量网络分析仪：只测量线性系统的幅度信息； (2)矢量网络分析仪：可同时进行幅度传输特性和相位特性测量。 系统组成原理 基本的网络分析仪：主要由信号源、S 参量测量装置及矢量电压表组成。 图 7.2-1 信号源：向被测网络提供入射信号或激励； S 参量测量装置：是反射测量电路与传输测量电路的组合，首先将入射、反 射及传输信号分离开，然后通过转换开关分别进行测量； 矢量电压表：测量入射、反射和传输信号的幅值及它们之间的相位差，也可 以通过幅相接收机实现此功能。 标量网络分析仪组成图 图 7.2-2 a1 为入射波、b1 为反射波、b2 为传输波，它们的测量通道分别为 R（参 考）、A、B。通过这些信号可确定正向 S 参数|S11|、|S21|。将被测网络的激 励端与测试端反接，同理可测得|S22|、|S12|。 外差式矢量网络分析仪组成图 上图中 PFD 为相频检波器，H(s)为环形滤波器，BPF 为带通滤波器。 基本结构与外差式接收机类似：扫频源一方面为 DUT 提供激励，一方面 可以作为单独的扫频源输出通道 S。参考信号即入射波，通过 R 通道进行测 量。反射波、传输波所在的测试通道分别为 A、B。为获得复 S 参数而进行 的复数除法可用硬件完成，现在多采用对混频所得的中频信号采样和数字化， 然后通过数字处理的方法来实现。 网络分析仪与频谱分析仪比较 在电路结构方面，矢量网络分析仪与外差式频谱分析仪相似：在预定频 率范围内自动测量电路幅度增益与相位，使用内部扫频源或可程控的外部信 号源作激励，测量被激励电路的幅度增益与相位。 不同之处：频谱分析仪测量未知或任意的输入频率，而矢量网络分析仪 只测量自身或受控的已知频率；外差式频谱分析仪测量输入信号的幅度（标 量仪器），矢量网络分析仪测量输入信号的幅度和相位（矢量仪器）。 7.3. 反射参数测量 7.3.1. 反射参数（S11、S22）测量的实现 设信号源出射波为 ES、功分器分配系数分别是 c1、c2，DUT 反射系数 为 S11，定向耦合器将 DUT 的反射波耦合到测试通道的耦合系数为 c3。有 T = R c c 2 3 S c 1 11 7.3-1 用矢量网络分析仪测量反射参数 7.3.2. 反射参数测量中的误差来源 用含有功率分配器、定向耦合器等微波器件的系统进行反射参数测量将必然存在系统 误差，这些误差来自系统本身的频响特性以及端口特性。 定向耦合器作为一个三端口网络，可用信流图表示如下： 7.3.3. 反射参数测量误差模型 7.3.4. 反射参数测量误差修正 7.4. 传输参数测量 7.4.1. 传输参数（S21、S12）测量的实现 下图所示为传输参数测量系统。传输测量与反射测量的原理基本相同， 区别在于 DUT 必须串接在测试信号通路中 设信号源出射波为 ES，功率分配器的分配系数分别是 c1、c2，DUT 的传输系数为 S21， 有： T = R c c 2 S 21 1 7.4.2. 传输参数测量中的误差来源 7.4.3. 传输参数测量误差模型 7.5. S 参数的全面测量及误差修正 由以上讨论可知：传输参数的测量误差无法采用与反射参数误差处理方 法相同的过程实现校准和修正，而必须将所有的 S 参数全部测出，再统一修 正所有误差。 反射、传输参数双向测量系统如下图所示：图中两个微波开关联动，拨 到位置 1 时可测反射参数，拨到位置 2 时可测传输参数，因此不必重新连接 DUT 就能测出双端口网络的全部 S 参数。 第 8 节：无源天线测量技术及实验 8.1. 天线测量条件和测量参数 8.2. 天线方向图测量技术； 8.3. 天线增益测量技术； 8.4. 反射、传输相位特性参数测量； 8.1. 天线测量条件和测量参数 8.1.1. 天线测试场 反射测试场 自由空间测试场 紧缩场 近场测试场 8.1.2. 测量参数 天线方向图测试 天线增益测试 天线极化测试