单片测试仪测量铁基非晶合金带(片)的要求.pdf

GB/T 19346.3 — 201X/IEC 60404-16:2018 附 录 A （资料性附录） 单片测试仪测量铁基非晶合金带（片）的要求 A.1 试样形状 试样应平整的放置在磁导计中， 因为非晶纳米晶合金带（片） 有很高的磁致弹性， 所以非晶纳米晶 合金带（片）形状的小形变都会导使其磁性能恶化。 不宜根据 GB/T 3658 [2] 使用环形试样进行测试，因为把铁基非晶合金带（片）制成环样后，其直径 的微小改变通常是无法避免的，而由此获得的磁性能会恶化。 A.2 H 线圈法 功率表法测量磁化电流的磁场强度（“ MC 法”）的结果包含了磁轭的磁性能，所以它不适合测量 薄的、低损耗的材料，比如铁基非晶合金带（片）。相比之下， H 线圈模式的功率表法（“ H 线圈法”） 测量时只测试了样品中间一部分的磁性能而不包含磁轭的磁性能。因此， MC 法测量的损耗值通常比 H 线圈法测量的损耗值要高。 使用 H 线圈法，关键点是一边连接 H 线圈的信号输出，一边连接次级线圈的信号输出，见图 4 。 它能有效的减少高频噪声对 H 线圈信号的干扰。 H 线圈绕更大的匝面积和通过一个高质量、低噪声的 前置放大器将 H 线圈信号的放大都是关键点。推荐使用一个纯净的直流电源给前置放大器供电，可以 使其免受电源频率噪声的干扰。 采用多周期同步平均的信号可以有效去除信号中的噪声，但对工频干扰引起的噪声作用不大。 A.3 磁轭 磁轭的材料在低磁化条件下应具有低的剩磁与比总损耗， 以减少试样的直流偏磁。 软磁铁氧体材料 是制作磁轭的合适材料。 单个的磁轭比双磁轭更合适，因为非晶纳米晶合金带（片）对压力很敏感。 在磁轭磁极面部分的测 试样品受到上磁轭自重产生的压力， 磁性能会恶化。而且，如果试样的两端被夹在磁轭磁极面时， 铁基 非晶合金带 （片）较大的磁致伸缩会在材料上产生压力。 这些因素产生的影响比单个磁轭中磁通量的非 对称转换引起的非常薄的试样中涡流产生的损耗还要大。 A.4 连接线 H 线圈感应的电压 UH (t)是很微弱的，而且很容易引入高频噪声。为了减少输出信号的噪声，线圈 与测量设备之间的连线应按图 4 连接，每组连线在测量设备前面连接到一点并且作公共地处理。 A.5 无感精密电阻 励磁电流的测量使用一个精度为 ±0.1%或更好的无感精密电阻。为了减小磁极化波形的失真，电 阻值一般不超过 1 Ω。 无感精密电阻应该是额定功率足够大的四端电阻， 电阻的两个电流端串联在初级线圈中， 两个电位 端连接到测量装置的一个信号通道中（见图 2 ）。 A.6 磁屏蔽 12 GB/T 19346.3 — 201X/IEC 60404-16:2018 最好在单片测试仪上安装磁屏蔽罩， 因为非晶纳米晶合金带（片） 的磁导率相当高，而且与有取向 材料相比， 在铸造方向上有微弱的各向异性， 所以，尽管磁导计的磁轴与地磁场方向成直角，地磁场在 很大程度上还是可以在与主轴成斜角的方向对试样进行磁化。 磁屏蔽罩可以避免外部磁场对测试样品进 行不必要的磁化。 A.7 不定期检查已安装 H线圈