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YICHENG
切割过程中的线痕、TTV分析
平顶山易成新材料股份有限公司
2011年5月
列领中国碳化硅精细微粉发
内容
★线痕
*TTV (Total Thickness Variety)
★台阶
一攫易成手永远是朋友
列领中国碳化硅精细微粉发
线痕
一攫易成手永远是朋友
列领中国碳化硅精细微粉发
线痕按表现形式分为:
杂质线痕;
划伤线痕;
密布线痕;
错位线痕;
边缘线痕等。
各种线痕产生的原因如下:
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杂质线痕:由多晶硅锭内杂质引起,在切片过
程中无法完全去除,导致硅片上产生相关线痕。
表现形式:
(1)线痕上有可见黑点,即杂质点。
(2)无可见杂质黑点,但相邻两硅片线痕成对,
即一片中凹入,一片凸起,并处同一位置。
(3)以上两种特征都有。
(4)一般情况下,杂质线痕比其它线痕有较高
的线弓。
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改善方法
(1)改善原材料或铸锭工艺,改善PQC检测
手段
(2)改善切片工艺,采用粗砂、粗线、降低台
速、提高线速等。
其它相关:硅锭杂质除会产生杂质线痕外,还
会导致切片过程中出现“切不动”现象。如未及时
发现处理,可导致断线而产生更大的损失。
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划伤线痕:
由砂浆中的SC大颗粒或砂浆结块引起。切割过
程中,S|C颗粒“卡”在钢线与硅片之间,无法溢
出,造成线痕。
表现形式:包括整条线痕和半截线痕,内凹,
线痕发亮,较其它线痕更加窄细。
改善方法:
(1)针对大颗粒S|C要加强QC检测;使用部
门对同一批次SC先进行试用,然后再进行正常
使用。
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(2)导致砂浆结块的原因有:砂浆搅拌时间不
够;SC水分含量超标,砂浆配制前没有进行烘
烤;PEG水分含量超标(重量百分比05%);
S|C成分中游离C(0.15%)以及2μm微粉超
标
一攫易成手永远是朋友
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重点提示:SlC的特性包括S|C含量、粒度、粒
形、硬度、韧性等,各项性能对于切片都有很
大的影响。
plastic zone
moving wire
oooo。0o
crystal
fracture zone
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密布线痕(密集型线痕):
由于砂浆的磨削能力不够或者切片机砂浆回路
系统问题,造成硅片上出现密集线痕区域。
表现形式
硅片整面密集线痕,原因为砂浆本身切割能力
严重不足引起,包括sSC颗粒粒形圆钝、粒度太
小、砂浆搅拌时间不够、砂浆更换量不够,也
可以将切割速度调整慢一点等,可针对性解决。
一攫易成手永远是朋友
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