四大波谱基本概念以与解析.pdfVIP

四大谱图基本原理及图谱解析 一 .质谱 1.基本原理： 用来测量质谱的仪器称为质谱仪， 可以分成三个部分： 离子化器、 质量分析 器与侦测器。 其基本原理是使试样中的成分在离子化器中发生电离， 生成不同荷 质比的带正电荷离子，经加速电场的作用，形成离子束，进入质量分析器。在质 量分析器中， 再利用电场或磁场使不同质荷比的离子在空间上或时间上分离， 或 是透过过滤的方式， 将它们分别聚焦到侦测器而得到质谱图， 从而获得质量与浓 度 (或分压 )相关的图谱。 在质谱计的离子源中有机化合物的分子被离子化。 丢失一个电子形成带一个 正电荷的奇电子离子 (M+ ·)叫分子离子。它还会发生一些化学键的断裂生成各种 碎 片 离 子 。 带 正 电荷 离 子 的 运 动 轨 迹 ： 经 整 理 可 写 成 ： 式中： m ／e 为质荷比是离子质量与所带电荷数之比；近年来常用 m ／z 表示质荷比； z 表示带一个至多个电荷。由于大多数离子只带一个电荷， 故 m ／z 就可以看作离子的质量数。 质谱的基本公式表明： （1）当磁场强度 (H) 和加速电压 (V) 一定时，离子的质荷比与其在磁场中运 动半径的平方成正比 (m ／z ∝r2m) ，质荷比 (m ／z)越大的离子在磁场中运动的轨 道半径 (rm)也越大。这就是磁场的重要作用，即对不同质荷比离子的色散作用。 （2 ）当加速电压 (V) 一定以及离子运动的轨道半径 ( 即收集器的位置 )一定 时，离子的质荷比 (m ／z)与磁场强度的平方成正比 (m ／z∝H2)改变 H 即所谓的 磁场扫描， 磁场由小到大改变， 则由小质荷比到大质荷比的离子依次通过收集狭 缝，分别被收集、检出和记录下来。 （3 ）若磁场强度 (H) 和离子的轨道半径 (rm)一定时，离子的质荷比 (m ／z)与 加速电压 (V)成反比 (m ／z∝ 1 ／V) ，表明加速电压越高， 仪器所能测量的质量范 围越小。就测量的质量范围而言， 希望质量范围大一些， 这就必须降低加速电压。 从提高灵敏度和分辨率来讲， 需要提高加速电压。 这是一对矛盾， 解决的办法是 在质量范围够用的情况下尽量提高加速电压， 高分辨质谱计加速电压为 8kV ，中 分辨为 4～3kV 。 2.解析方法： 质谱的表示方法有质谱图和质谱表两种， 最常用的为质谱图。 质谱图的横座 标是离子的质荷比 (m ／z) 。当离子所带的电荷 z=l 时，质荷比就是离子的质量质 谱的纵坐标表示相对强度或相对丰度。以质谱图中最强峰的强度为 100％，称为 基峰。 质谱中的分子离子 (M+ ·)和碎片离子 (A+) 都是由天然丰度最大的轻同位素组 成的。比分子离子 (M+ ·)或碎片离子 (A+) 峰高 1～3 质量数处可观察到一些小峰， 它们来自重同位素的贡献， 称为同位素峰。 由于各种元素同位素的天然丰度不同， 它们同位素峰的强度也不相同，同位素峰的强度不仅与重同位素天然丰度有关， 还与分子所含元素的数目有关。 所以， 由质谱确定相对分子质量、 分子式比其他 方法准确度高，测定速度快、样品量少。分子离子峰的质荷比 (m ／z)就是该化合 物的相对分子质量，再根据同位素峰的相对强度就可以确定分子式。 3.实例解析： 根据图谱， 该化合物分子量应为 129，且其相对丰度较低及稳定性较差，