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{品质管理 S 统计}统计过 程控制管理程序 a ． 子组频率：应当在适当的时间收集足够的子组，一般对正在生 产的产品进行监测的子组频率可以是每班两次、每小时一次或其他可 行的频率。 b ． 子组数的大小：一般情况下，包含100 或更多单值读数的 25 或更多个子组数可以很好的用来检验稳定性。 A ．2 建立控制图及记录原始数据 X—R 图通常是将X 图画在R 图之上方，下面在接一个数据栏。 X 和 R 的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差 和均值点应纵向对齐。数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括 记录读数的和、均值（X ）、极差（R ）以及日期或其他识别子组的代 码的空间。填入每个子组的单个读数及识别代码。 A ．3 计算每个子组的均值（X ）和极差（R ） 画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值（X ）和样本极差 （R ），合在一起后它们分别反映整个过程的均值及其极差。 对于每个子组，计算： X +X +…+X 1 2 n X= n R=X 最大值—X 最小值 式中：X +X +…+X 为子组内的每个测量值。n 为子组的样本容量 1 2 n A ．4 选择控制图的刻度 两个控制图的纵坐标分别用于X 和 R 的测量值。对于X 图，坐标 上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最 小值差的2 倍。对于 R 图，刻度值应从最低值为0 开始到最大值之间 的差值为初始阶段所遇到的最大极差的 2 倍。 A ．5 将均值和极差画在控制图上 将均值和极差分别画在其各自的图上将各点用直线连接起来从而得 到可见的图形和趋势。简要的浏览一下所有画上去的点，看是否合理， 如果有的点高的很多或者低的很多，需确认计算和画图是否正确，应 确保所画的 X 和 R 点在纵向是对应的。 B 、计算控制限 B ．1 计算平均极差（R ）及过程均值（X ） R +R +…R 1 2 k R= k X +X +…X 1 2 k X= k 式中：k 为子组的数量，R 和 X 即为第一个子组的极差和均值， 1 1 R 和 X 为第一个子组的极差和均值，等等。 2 2 B ．2 计算控制限 计算控制限：UCL =D R R 4 LCL =D R R 3 UCL =X＋A R X 2 LCL =X—A R X 2 式中：D 、D 、A 为常数，参见下表： 4 3 2 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 B ．3 在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线 将平均极差和过程均值画成水平实线，各控制限画成水平虚线， 把线标上记号。 C ．过程控制解释 C ．1 分析极差图上的数据点 a ．超出界限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处 于失控状态的主要证据。任何超出控制限的点立即进行分析，找出存 在特殊原因的信号。给任何超出控制限的点做标记，以便根据特殊原 因实际开始的时间进行调查，采取纠正措施。 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 1） 控制限计算错误或描点时描错； 2） 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大 可以发生在某个时间点上，也可能