单片机原理及应用试验参考指导书范本.docVIP

单片机原理及应用试验参考指导书范本.doc

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《单片机原理及应用》 实 验 指 导 书 目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u 试验一 P1口输入输出试验 1 试验二 T0定时器定时试验 3 试验三 T1定时器定时中止试验 5 试验四 扩展可编程并行口8255试验 7 试验五 CPU串行口通讯试验 9 试验六 DAC0832试验 11 试验七 ADC0809试验 13 试验八 单脉冲外部中止试验 15 附录 EL试验系统结构 17 硬件试验操作指南 依据试验内容进行硬件连线 注意:连线及拆线时必需关闭试验箱电源。 编写程序并运行 运行桌面上“MCS51”应用程序; 按确定,串口及波特率设定为默认值; 下拉菜单选择 文件—新建—ASM51文档; 在空白处输入源程序(以下为P1口输入输出试验部分参考程序,横线处须补充指令): CSEG AT 0000H LJMP START CSEG AT 4100H START:MOV A,P1 JMP START END 输入完成后选择 文件—保留 路径保留在D盘根目录下即可; 下拉菜单选择 编译—汇编 弹出窗口中会显示编译结果,假如程序有语法错误,弹出窗口中会提醒在何处有错误,此时须依据提醒修改程序,再次保留后重新编译,直至程序没有错误为止; 打开试验箱电源,稍等片刻后试验箱左上角数码管会显示“P-”,假如试验箱一直显示乱码,则试验箱有问题,请更换机位进行试验; 下拉菜单选择 调试—单片机复位; 依据弹出窗口提醒,点击确定后按下试验箱右下角黄色按钮“PRESET”,此时数码管显示“C-”代表电脑和试验箱通信正常,若显示不对请反复8、9步操作; 下拉菜单选择 调试—调试 可将程序下载入试验箱平台; 下拉菜单选择 调试—运行 即可运行所编写程序; 观察试验结果并统计; 试验完成,关闭试验箱电源,拆线时注意按住CPU小板进行拆线。 注意:CPU小板锁紧座有一个锁定拨杆,假如CPU小板松动不可强行进行插拔! 试验一 P1口输入输出试验 一、试验目标 掌握P1口操作方法。 二、试验内容 由P1.0-P1.3读入开关KK1-KK4状态,并由P1.4-P1.7输出由发光管L1-L4显示。 三、试验器材 微机、EL型微机教学试验箱。 四、试验原理图: LED1-LED4是发光二极管L1-L4输入插孔,输入为“0”时亮。K1-K4是开关KK1-KK4输出插孔。P10-P17是8031P1口。在CPU小板上。 五、连线指导: P10-P13接拨动开关KK1-KK4输出(K1,K2,K3,K4); P14-P17接发光二极管L1-L4输入(LED1,LED2,LED3,LED4)。 编程使发光二极管L1-L4实时显示开关KK1-KK4状态。 六、程序步骤图 开始 开始 置P1.0~P1.3为输入状态 置P1.0~P1.3为输入状态 读P1口 读P1口 读入高低四位内容交换 读入高低四位内容交换 输出至P1口 输出至P1口 试验二 T0定时器定时试验 一、试验目标 经过试验掌握T0定时器使用方法。 二、试验内容 采取查询方法编程T0为定时器方法,并经过P1.0输出10HZ方波,经过发光二极管观察P1.0脚输出状态。 三、试验器材 微机、EL型微机教学试验箱。 四、试验原理图 P1.0-P1.7是8031P1口,在CPU 板J3插孔中。 五、连线指导: P10连接发光二极管L1输入LED1。 六、程序步骤图: 开始 开始 置TMOD 置TMOD TH0,TL0送值 TH0,TL0送值 置TCON值 置TCON值 读TCON 读TCON TF0=1? N TF0=1? Y P1.0状态取反 P1.0状态取反 试验三 T1定时器定时中止试验 一、试验目标 掌握T1定时器使用方法。 二、试验内容 采取中止方法编程T1为定时器方法,并经过P1.0输出10HZ方波,经过发光二极管观察P1.0脚输出状态。 三、试验器材 微机、EL型微机教学试验箱。 四、试验原理图 P1.0-P1.7是8031P1口。在CPU板J3插孔中。 五、连线指导: P10连接发光二极管L1输入LED1。 六、程序步骤图 开始关中止 开始 关中止 P1.0状态翻转 开中止 RETI 置TMOD 置TMOD TH1,TL1送值 TH1,TL1送值 置

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