现代材料分析方法试题及答案.pdfVIP

《现 代 材 料 分 析 方 法 》期 末 试 卷 1 《现 代 材 料 分 析 方 法 》期 末 试 卷 1 一、单项选择题 （每题 2 分，共 10 分） 一、单项选择题 （每题 2 分，共 10 分） 1．成分和价键分析手段包括 【 b 】 1．成分和价键分析手段包括 【 b 】 （a）WDS、能谱仪 （EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （a）WDS、能谱仪 （EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2．分子结构分析手段包括 【 a 】 2．分子结构分析手段包括 【 a 】 （a）拉曼光谱 （Raman）、核磁共振 （NMR）和傅立叶变换红外光谱 （FTIR） （b） （a）拉曼光谱 （Raman）、核磁共振 （NMR）和傅立叶变换红外光谱 （FTIR） （b） NMR、FTIR 和 WDS NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM （扫描透射电镜） （d） XRD、FTIR 和 Raman （c）SEM、TEM 和 STEM （扫描透射电镜） （d） XRD、FTIR 和 Raman 3．表面形貌分析的手段包括 【 d 】 3．表面形貌分析的手段包括 【 d 】 （a）X 射线衍射 （XRD）和扫描电镜 （SEM） (b) SEM 和透射电镜 （TEM） （a）X 射线衍射 （XRD）和扫描电镜 （SEM） (b) SEM 和透射电镜 （TEM） (c) 波谱仪 （WDS）和 X 射线光电子谱仪 （XPS） (d) 扫描隧道显微镜 （STM）和 (c) 波谱仪 （WDS）和 X 射线光电子谱仪 （XPS） (d) 扫描隧道显微镜 （STM）和 SEM SEM 4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】 4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】 （a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构 （a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键 （c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】 （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、 和–NH2, （a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、 和–NH2, (c) –C-H、 和-C C- (d) –C-H、 和 CO (c) –C-H、 和-C C- (d) –C-H、 和 CO 二、判断题 （正确的打 √，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 二、判断题 （正确的打 √，错误的打×，每题 2 分，共 10 分） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （ × ） 1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （ × ） 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 （ √ ） 2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 （ √ ） 3．透镜的数值孔径与折射率有关。 （ √ ） 3．透镜的数值孔径与折射率有关。 （ √ ） 4． 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 （ × ） 4． 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。