2020从锻件侧面作径向检测时探头在锻件侧面扫查.pptVIP

1 应用物理教研室 Xi an Polytechnic University 第 8 章 锻件超声检测 2 ? 锻件检测方法概述 ? 检测条件的选择 ? 扫描速度和灵敏度的调节 ? 缺陷位置和大小的测定 ? 缺陷回波的判别 ? 锻件质量级别的评定 ? 锻件检测应用实例 主要内容 3 1. 轴类锻件检测 一 . 锻件检测方法概述 (1) 直探头径向检测和轴向检测 用直探头作径向检测时要将探头置于外圆作全面扫查，以发 现轴类锻件中常见的纵向缺陷。（ A 位置）。 A B 用直探头作轴向检测时，将探头置于轴的端面，并在端面做全面扫 查，以检测出与轴线相垂直的横向缺陷。（ B 位置） 。 4 (2) 斜探头周向检测和轴向检测 当缺陷呈径向或与轴线呈一定角度时，用斜探头做正、反两 个方向的全面扫查。 5 2. 饼类、碗类锻件检测 从端面检测时，探头置于锻件端面进行全面扫查，以检出与 端面平行的缺陷。从锻件侧面作径向检测时，探头在锻件侧面扫 查，以发现某些方向轴向缺陷。 6 3. 筒形或环形锻件检测 (1) 直探头检测：从外圆发现与轴线平行的缺陷； 从端面发现与轴线垂直的缺陷。 7 (2) 斜探头检测：轴向检测：发现与轴线垂直的缺陷； 周向检测：发现与轴线平行的缺陷。 轴向检测 周向检测 8 二 . 检测条件的选择 1. 探头的选择 对于纵波直入射法，可选用单晶探头。 低碳钢或低合金钢材料：频率： 2 ～ 5MHz ， 探头尺寸： Ф 14mm ～ Ф 25 mm ； 奥氏体钢材料：频率： 0.5 ～ 2MHz ， 探头尺寸： Ф 14mm ～ Ф 30mm ； 对于横波检测，一般选择 K =1.0 的斜探头进行检测。 对于较小的锻件或为了检出近表面缺陷，可选用双晶直探头，常用频率 为 5 MHz 。 9 2. 纵波直入射法检测面的选择 锻件检测时，原则上从两个相互垂直的方向进行检测，并尽可能地 检测到锻件的全体积；若锻件厚度超过 400mm 时，应从相对两端面进行 100% 的扫查。 环形锻件检测 10 饼形锻件 筒形锻件 11 3. 试块选择 采用单晶直探头检测时，常选用 CS Ⅰ标准试块。 12 工件检测距离小于 45mm 时，应采用双晶探头和 CS Ⅱ标准试块来调节检测灵敏度。 13 14 当检测面为曲面时，应采用 CS Ш 标准试块来测定由于曲率不同 引起的耦合损失。 15 三 . 扫描速度与灵敏度的调节 1. 扫描速度的调节 ? 扫描速度可在试块上进行，也可以在锻件上已知尺寸的部 位上进行。 ? 调节扫描速度时，一般要求第一次底波前沿位置不超过水 平刻度极限的 80% ，以利于观察一次底波后的某些信号情况。 2. 检测灵敏度的调节 ? 底波调节法（ x ≥3 N ） ? 试块调节法（ x 3 N ） 16 ? 底波调节法：当锻件被探测部位厚度 x ≥3 N ，且锻件具有平行底面或圆柱曲 底面时，常用底波来调节灵敏度。 (1) 计算：对于大平底或实心圆柱体，同距离处底波与平底孔回波的分贝差为： 2 f f B 2 lg 20 lg 20 D x P P ? ? ? ? ? 对于空心圆柱体，同距离处圆柱曲底波与平底孔回波的分贝差为： D d D x P P lg 10 2 lg 20 lg 20 2 f f B ? ? ? ? ? ? d — 空心圆柱体内径， mm ； D — 空心圆柱体外经， mm ； “ +”— 外圆径向检测，内孔凸柱面反射；“ - ”— 内孔径向检测，外圆凹柱面反射； 17 (2) 调节：探头对准完好区的底面，调“增益”使底波 B 1 达基准高度，然后用衰 减器增益 Δ dB 即可。 底波 B 1 → 80% 缺陷波 → 80% 18 [ 例 1] 用 2.5 P 20 Z 探头径向检测 Ф 500 mm 的实心圆柱体锻件， c L =5900 m/s ，问如 何利用底波调节 500 mm/ Ф 2 灵敏度？ 19 [ 例 2] 用 2.5 P 20 Z 探头径向检测外径为 Ф 1000 mm 、内径为 Ф 100 mm 的空心圆柱 体锻件， c L =5900 m/s ，问如何利用底波调节 4 50 mm/Ф2 灵敏度？ 20 ? 试块调节法 (1) 单晶探头检测： 当锻件的厚度 x 3 N ，应利用具有人工反射体的试块来调节 灵敏度，如 CS Ⅰ和 CS Ⅱ试块。调节时将探头对准试块的平底孔，调 “增益” 使平底孔回波达基准高度即可。 [ 例 1] 用 2.5 P 20 Z 探头检测厚度为 50 mm 的小锻件，采用 CS Ⅰ试块调节 50 / Ф 2 灵敏度，试块与锻件表面耦合差 3dB ，问如何调节灵敏度？ 解：将探头对准 CS Ⅰ试块中 1 号试块的 Ф 2