锥光镜下晶体光学基本性质与测定要求.pptVIP

锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;;第一节 锥光镜的装置及特点;2. 锥光系统各部件所起的作用;b 高倍镜：接纳倾斜角度较大的光线;;第六章 锥光镜下的晶体光学性质;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;一、垂直OA切面的干涉图; ;(2) 一轴晶垂直OA切面波向图;;(4)干涉色色圈的成因;;（2）确定矿物光性符号;;;石膏试板与云母试板的选择?;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;加入石英楔，干涉色圈的变化给人一种运动的感觉：干涉色圈向外扩散，表明干涉色在逐步降低；干涉色向内消亡，表明干涉色在逐渐升高。抽出石英楔，干涉色圈运动方向与插入时相反。;二、斜交OA切面的干涉图;1. 偏心光轴干涉图;;;2、当黑十字交点不在视域时;锥光镜下的晶体光学的基本性质和测定要求;（+）;三、平行OA切面的干涉图;三、平行OA切面的干涉图;2、成因;3、干涉图的应用;（2）确定矿物光性符号;当轴性已知时,可以确定切片类型和光性符号;;第六章 锥光镜下的晶体光学性质;Nm;Nm;第三节 二轴晶干涉图及光性正负的测定;一、垂直锐角等分线(⊥Bxa)切面的干涉图;(2) 在45?位置：;(3) 在90?位置;2、垂直Bxa切面干涉图的应用;二轴晶垂直Bxa切面干涉图中光率体要素的分布;三个前提: ① NgNmNp; ② 光轴面法线永远是Nm; ③ 若Bxa=Ng 为二(+), 若Bxa=Np 为二(-); 因此,需要测定Bxa是Ng还是Np;当干涉色图中弯曲黑带以外仅具一级灰干涉色时，插入石膏试板，弯曲黑带变为一级红色，二弯曲黑带顶点之间由一级灰变为二级蓝，干涉色升高，同名半径平行(如图试板半径为已知)，证明Bxa=Ng，故为正光性。同上述现象相反，则为负光性特征。;正光性与负光性判别;（3）估计光轴角大小;二、垂直一个光轴(⊥OA)切面的干涉图;(1)、0°位置 当光轴面(Ap)与上、下偏光镜振动方向之一平行时，出现一个直的黑带及卵形干涉色色圈(双折率较大或薄片较厚) ，黑臂较细的地方为光轴出露点。;(2) 45°位置;(3) 90°位置; (4)135°位置 黑带由直再度弯曲，且弯曲度最大???转动载物台过程中，光轴出露点始终位于视域中心。;;2、⊥OA切面干涉图的应用;(3)测定光性符号;;三、斜交切面的干涉图;图像特点： ①? Bxa出露点偏离视域中心，转动物台黑臂的移动及出现的图形不象垂直Bxa切面干涉图那样完整。 ②??黑带与干涉色色圈均不完整，转动物台黑带弯曲移动过视域。 ③ 当光轴面与上、下偏光镜振动方向成45°位置时，弯曲黑带顶点连线不通过视域中心。 ;2. 斜交OA切面的干涉图;3.斜交光轴切面干涉图的应用 （1）可以确定轴性与切面方向 （2）测定光性符号;四、垂直钝角等分线(⊥Bxo)切面的干涉图;(3)AP＝45?位置，弯曲黑带顶点相距最远，其顶点（OA出露点）不在视域内。最大双折射率较大时，有色带，干涉色对称分布：光轴面迹线方向，由内向外干涉色降低；Nm方向，由内向外干涉色升高。 ;(4)AP＝90?位置，又出现一个粗大的黑十字，但是与0?位置时方向不同，继续转动载物台，黑十字又分裂。重复以上情形。;2、应用;五、平行光轴面(∥AP)切面的干涉图;1.图像特点：;2.应用;⊥Bxa切面;判断下列干涉图的切面类型、轴性及光性符号，并画出光率体长短半径的方位 ;第四节 透明矿物系统鉴定;单偏光镜下观察; 正交偏光