ITO导电玻璃检验标准.docxVIP

精品文档 精品文档 PAGE PAGE7 精品文档 PAGE 范 围 本标准准适用于正星光电科技有限企业生产的 ITO产品。 规范性引用文件 JISB0601—1994表面微观涟漪度测量过程和方法的标准。 GB2828—2003计数抽样查验程序 [第一部分 按照接收质量限（ AQL）检索的逐批查验抽样计划]。 玻璃基片的规格 长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表 序号 查验项目 标准范围 测量方法 1 长度/宽度 ± 数显游标卡尺 ± 2 ± 厚度 千分尺 55mm± ± 3 垂直度 ≤% 宽座角尺和塞尺 垂直度 玻璃基片的垂直度的公差等级 a/L≤%（见图1，a为公差带，L为被测玻璃基片的相应边长）。 图1玻璃基片的垂直度 弯曲度（h/L) 图2玻璃基片的弯曲度，不允许 S形弯曲 微观涟漪度（玻璃的浮法锡面） 微观表面涟漪度的数值 Rt的最大值应切合表 2要求 序号 厚度 玻璃种类 弯曲度 微观涟漪度 1 非加强 ≤% ≤20mm 加强 ≤% 2 非加强 ≤% ≤20mm ≤% 加强 3 非加强 ≤% ≤20mm ≤% 加强 4 033mm 非加强 ≤% ≤20mm 加强 ≤% 磨边倒角: b  切角磨边示意图R型边 编号 项目 标准要求 查验方法 1 C型倒边 ≤W≤ a 10倍放大镜 2 向 宽度:≤W≤曲半径:R≤50mm 10倍放大镜 方 b=± 3 法 10倍放大镜 表记角 d*d 浮 c=± *45° C型边 4 相同角 A=± 10倍放大镜 5 崩边 长≤1mm,宽≤ 10倍放大镜 深度≤1/2基片厚度 6 破碎 不允许 目测 7 边、角未磨 不允许 目测 表面质量 包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。 点状缺陷的直径d定义为：d=（L+W）/2，见图5。划伤缺陷的定义为： L3mm,W见图6： 图5点状缺陷的尺寸 图6划伤图形的尺寸 双面ITO产品表面质量查验标准 No 缺陷分类 A品标准范围 B品 内部气泡、杂质 点、针眼、污点、 d≤不计 1 锡斑、亮点、表 d≤最多2个/片 D≤,10 个/片,允许;D,不允许. 面凹凸点、颗粒 d不允许 d=(W+L)/2  测量方法 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15  玻筋 划伤 污染 膜层针孔 d=(L+W)/2 毛边.锡斑. 发霉 手指印 亮道划伤.污渍. 手指印.轮印 颜色 漏镀ITO 裂纹 结疤 玻璃屑 粘附力 质量保证区  日光灯下不可见 W≤1mm,单个长度≤100mm,1条/片 允许.单个长度≤50mm,2 条/片允许.单个长度≤ 宽度 W≤,不计;≤W≤,单个长度≤ 10mm,5条/片允许.单个 3mm,1条/片允许;W,不允许. 长度≤5mm,不计.间隔距 离100mm以上W1mm,不 允许. 使用专用冲洗剂经过正常冲洗过程后冲洗不洁净的沾污不允许 d≤不计 d≤不计 d≤最多2个/片 d≤最多10个/片 d不允许 d不允许 批量性.表面看比较明显不允许 高出边缘 5mm，批量性可擦拭不允许 偶尔1-2片日光灯不可见允许，批量性日光灯不可见不允许。 日光灯查验有异色不允许 不允许 不允许 不允许 不允许 不允许 允许边缘 5mm  裸眼≥1000LUX （30W日光灯）光照条件距离玻璃 30cm （注：客 户有特别 要求的， 以客户要 求为准） 质量保证地区以外 ,即四周边缘5mm以内地区除崩边角 ,裂纹、毛边较严重以外的其他种类缺陷 (包括划伤、气泡、 针眼、污渍、节疤)能够不考虑。 离玻璃30cm查验 图6查验方法 膜层质量 电阻测试:距边缘20mm用四探针检测面电阻. 镀ITO导电玻璃膜层参数指标 高温产品查验标准 产品规格 电阻范围Ω/□ 透过率 刻蚀时间 膜厚 颜色 HTP500Ω 400～500 ≥94% ≤20S 120 ±30 淡紫红-淡蓝色 XYTP500Ω 400～500 ≥90% ≤20S 120 ±30 无色透明 XY双面ITO 正面60～120,反面180-300 ≥87% ≤30S 正面:250 ±50 无色透明 反面:150 ±50 XY双面ITO 正面80～120,反面200-300 ≥87% ≤30S 正面:250 ±50 无色透明 反面:150 ±50 TP500Ω 400～500 ≥90% ≤20S 120 ±30 无色透明 TP400Ω 350～450 ≥90% ≤20S 120 ±30 无色透明 150Ω 100～150 ≥87% ≤20S 220 ±50 无色透明 100Ω 80～100 ≥87% ≤30S 250 ±50 无色透明 90Ω 70～90 ≥87% ≤30S 250 ±50 无色透明 80Ω 60～80 ≥86% ≤40S 300 ±50 无