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金谷气体 -半导体常有气体的用途
半导体工业常用的高纯气
1、硅烷( SiH4):有毒。硅烷在半导体工业中主要用于制作高纯多晶硅、经过气相淀积制作二氧化硅薄
膜、氮化硅薄膜、多晶硅隔绝层、多晶硅欧姆接触层和异质或同质硅外延生长原料、以及离子注入源和激光介质等,还可用于制作太阳能电池、光导纤维和光电传感器等。 2、锗烷( GeH4):剧毒。金属锗是一种优秀的半导体材料,锗烷在电子工业中主要用于化学气相淀积,形成各样不同的硅锗合金用于电子元器件的制造。 3、磷烷( PH3):剧毒。主要用于硅烷外延的混杂剂,磷扩散的杂质源。同时也用于多晶硅化学气相淀积、外延 GaP材料、离子注入工艺、化合物半导体
的 MOCVD 工艺、磷硅玻璃( PSG)钝化膜制备等工艺中。 4、砷烷( AsH3):剧毒。主要用于外延和离子注入工艺中的 n 型混杂剂。
5、氢化锑( SbH3):剧毒。用作制造 n 型硅半导体时的气相混杂剂。 6、乙硼烷(B2H6):窒息臭味的剧毒气体。硼烷是气态杂质源、离子注入和硼混杂氧化
扩散的混杂剂,它也曾作为高能燃料用于火箭和导弹的燃料。
7、三氟化硼( BF3):有毒,极强刺激性。主要用作 P 型混杂剂、离子注入源和等离子刻蚀气体。 8、三氟化氮( NF3):毒性较强。主要用于化学气相淀积
(CVD )装置的冲洗。三氟化氮能够独自或与其余气体组合,用作等离子体工艺的蚀刻气体,比如, NF3、NF3/Ar 、 NF3/He 用于硅化合物 MoSi2 的蚀刻;NF3/CCl4、NF3/HCl 既用于 MoSi2 的蚀刻,也用于 NbSi2 的蚀刻。
9、三氟化磷( PF3):毒性极强。作为气态磷离子注入源。
10、四氟化硅( SiF4):遇水生成腐化性极强的氟硅酸。主要用于氮化硅
Si3N4)和硅化钽( TaSi2)的等离子蚀刻、发光二极管 P 型混杂、离子注入工艺、外延沉积扩散的硅源和光导纤维用高纯石英玻璃的原料。
11、五氟化磷( PF5):在潮湿的空气中产生有毒的氟化氢烟雾。用作气态磷离子注入源。
12、四氟化碳( CF4):作为等离子蚀刻工艺中常用的工作气体,是二氧化硅、氮化硅的等离子蚀刻剂。 13、六氟乙烷( C2H6):在等离子工艺中作为二氧化硅和磷硅玻璃的干蚀气体。
14、全氟丙烷( C3F8):在等离子蚀刻工艺中,作为二氧化硅膜、磷硅玻璃膜的蚀刻气体。半导体工业常用的混淆气体
1、外延(生长)混淆气:在半导体工业中,在认真选择的衬底上采用化学气相
淀积的方法,生长一层或多层材料所用的气体叫作外延气体。常用的硅外延气体有二氯二氢硅()、四氯化硅()和硅烷等。主要
用于外延硅淀积、氧化硅膜淀积、氮化硅膜淀积,太阳能电池和其余光感觉器的非晶硅膜淀积等。外延是一种单晶材料淀积并生长在衬底表面上的过程。常用外延混淆气组成如下表:
序号组份气体稀释气体氦、氩、氢、氮
1 硅烷( SiH4)氯硅烷( SiCl4)
二氯二氢硅( SiH2Cl2)
2
乙硅烷( Si2H6) 3
4
氦、氩、氢、氮氦、氩、氢、氮氦、氩、氢、氮 2、化学气相淀积( CVD )用混淆气: CVD 是利用挥发性化合物,经过气相化学反响淀积某种单质和化合物的一种方法,即应用气相化学反响的一种成膜方法。依据成膜种类,使用的化学气相
淀积( CVD )气体也不同,以下表是几类化学气相淀积混淆气的组成:膜的种类
混淆气组成
生成方法
半导体膜硅烷( SiH4)+氢
CVD 二氯二氢硅( SiH2Cl2) +氢氯硅烷( SiCl4)+氢
CVDCVD
离子注入 CVDCVDCVD
CVD 离子注入 CVD
硅烷( SiH4) +甲烷( CH4)硅烷( SiH4)+氧
绝缘膜硅烷( SiH4) +氧 +磷烷( PH3)
硅烷( SiH4) +氧 +乙硼烷( B2H6)硅烷( SiH4 )+氧化亚氮( N2O)+磷烷导体膜
六氟化钨( WF6)+氢六氯化钼( MoCl6 ) +氢 CVDCVD3 、混杂混淆气:在半导体器件和集成电路制造中,将某些杂质掺入半导体材料内,使材料具有所需要的导电种类和一定的电阻率,以制造电阻、 PN 结、埋层等。混杂工艺所用的气体称为混杂气体。主要包括砷烷、磷烷、三氟化磷、五氟化磷、三氟化砷、五氟化砷、三氟化硼、乙硼烷等。往常将混杂源与运载气体(如氩气和氮气)在源柜中混淆,混淆后气流连续注入扩散炉内并围绕晶片四周,在晶片表面沉积上混杂
剂,进而与硅反响生成混杂金属而徙动进入硅。常用混杂混淆气:备种类组份气稀释气
注
硼化合物
乙硼烷( B2H6)、三氯化硼( BCl3 )、溴化硼( BBr3 )
磷烷( PH3)、氯化磷( PCl3)
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