原子力显微镜.pptx

原子力显微镜目录1. 原子显微镜原理 针尖端原子与试样表面间存在微弱作用力将使悬臂发生相应的微小弹性形变，作用力与形变符合虎克定律F=k· △x仪器要对震动和声音屏蔽2. 原子显微镜系统组成2.1 检测系统悬臂的偏转或振幅改变可以通过：光反射法，光干涉法，隧道电流法，电容检测法等等一些方法检测。目前AFM系统中激光检测系统最常用，因为它简便灵敏。激光反射系统由探针，激光发射器和光检测器组成探针由悬臂和悬臂末端的针尖组成探针是由Si或Si3N4制成，半径10-几十nm之间，背部有涂层。 涂层的目的是增大探针背面对激光的反射率，改善对反射激光束的检测效率；提高耐磨性能。悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。探针末端的针尖一般呈金子塔形或圆锥形V形悬臂的优点：具有低的垂直反射机械力阻和高的侧向扭曲机械力阻。轻敲模式的悬臂由单晶硅制成，它的弹性系数与共振频率都要高于V形悬臂光检测器光源发出激光照在涂层包裹的悬臂上，经发射后进入光电二极管检测系统，然后，通过电子线路把照在二极管上的光量差转换成电压信号来指示光点位置。二极管检测器分为AB型和ABCD型AB是两个独立二极管子部分组成。只检测高度变化。ABCD是由四个二极管子组成，除了检测样品高度，还可以测探针与样品的侧向力2.2 扫描系统扫描器中装有压电转换器来实现对样品的精确扫描。压电装换器可在X,Y,Z三个方向上精确控制样品或探针的位置。扫描器主要是由钛锆酸铅制成的压电陶瓷材料，它有收缩性。目前压电陶瓷一般都是管状，控制不同方向的压电陶瓷组装在一起构成一个在X,Y,Z方向控制极其精确的扫描器2.3 反馈控制系统主要是由电子线路和计算机系统组成。控制系统主要功能是提供控制压电转换器X-Y方向扫描驱动电压：在恒力模式下维持来自显微镜检测环路输入模拟信号在一定数值。AFM有两种基本的反馈模式：恒力模式，恒高度模式恒力模式：接通反馈系统，调节压电陶瓷管来保持针尖与样品之间距离恒定，即力恒定。恒高度模式：关闭反馈系统，即样品在Z方向不移动，根据样品与针尖不同的作用力来检测样品的起伏变化。接触模式轻巧模式轻敲模式下，反馈回路控制微悬臂在一个恒定的振幅下振动，这样光电检测器上光斑就垂直振荡振荡，振荡的信号经过光电二极管的整流和低通虑波转换成直流电压信号，这个信号就可以作为微悬臂运动的度量3. AFM在高分子领域的应用AFM除了对材料表面分析外，还可以用不同的力扫描样品就可以研究高分子材料纳米范围的机械性能。有的高分子样品表面覆有软而博的表层，它与样品下层物质组成有所不同，我们可以用弱力观察最上面的样品而以强力来探测亚表面样品的结构。4. 与AFM相关的显微镜侧向力显微镜：与接触模式AFM工作原理十分相似，不同的是它通过检测悬臂的侧向扭曲反射。主要研究不均一组分样品的摩擦力变化。化学力显微镜：它的探针针尖修饰有特殊的官能团，来检测针尖上功能基团和样品表面之间黏滞力的差别，来研究黏性，润滑，高分子表面基团的性质和分布，以及生物体系中的键合识别作用。磁力显微镜：它的探针针尖包裹着一层铁磁性材料，检测样品与针尖磁场诱导的悬臂共振频率变化，来研究样品表面的空间磁场分布。静电力显微镜：它的探针带电荷，检测样品局部的电荷分布，来研究样品表面的电荷分布Thank you