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《微波技术与天线》实验指导书(DOC) 《微波技术与天线》实验指导书(DOC) PAGE / NUMPAGES 《微波技术与天线》实验指导书(DOC) 微波技术与天线实验指导书 南京工业大学 信息科学与工程学院 通讯工程系 目录 实验一 微波丈量系统的熟习和调整 - 2 - 实验二 电压驻波比的丈量 - 9 - 实验三 微波阻抗的丈量与般配 -12- 实验四 二端口微波网络阻抗参数的丈量 -17- - 1 - 实验一 微波丈量系统的熟习和调整 一、实验目的 熟习波导丈量线的使用方法； 掌握校准晶体检波特征的方法； 3. 观察矩形波导终端的三种状态（短路、接随意负载、般配）时， TE10 波的电 场重量沿轴向方向上的散布。 二、实验原理 1. 传输线的三种状态 关于波导系统，电场基本解为 Er V0 e ift Erm e ift r ln( b / a) (1) 当终端接短路负载时，导行波在终端所有被反射――纯驻波状态。 E y E y0 sin( x)e ift Ey 0 sin( x)eift a a 在 x=a/2 处 E y E y0 (e ift e ift ) 2Ey0 sin z 其模值为： E y 2E y0 sin z 最大值和最小值为： Er max 2Er 0 Er min 0 终端接随意负载时，导行波在终端部分被反射――行驻波状态。 E y E y0 sin( x)e ift E y0 sin( x)eift a a 在 x=a/2 处 E y E y0 e fit E y0 e fit (E y 0e ift Ey 0 e fit ) ( E y0 e fit Ey0 e fit ) (E y0 E y0 )e ift 2E y0 cos z 因而可知，行驻波由一行波与一驻波合成而得。其模值为： - 2 - E y (Ey 0 Ey0 )2 cos2 z (E y0 Ey0 )2 sin z 可获取最大值和最小值为： E y Ey0 Ey 0 max E y E y0 E y0 min 终端接般配负载时，导行波仅有入射波而无反射波――行波状态。 E y E y0 e ift 其模值为 Ey E y0 由上述可知，在丈量线的终端分别接上短路器、 随意负载和般配负载， 挪动探针地点，都能够观察到丈量线中不一样地点的电场强度（复振幅大小） 对应的电流指示读数。 2. 由丈量线的基本工作原理可知，指示器的读数 1 是探针所在处 |E|对应的检波 电流。 任一地点处 |E|与 I 的对应关系应视检波晶体二极管的检波特征而定。一般， 这类关系可经过对二极管定标而确立。 所谓定标，就是找出电场的归一化值 |E’|与 I 的对应关系。 E E E max 我们知道，当丈量线终端短路时： E 2E0 sin z E max 2E0 E sin z 2 sind g 假如我们取随意一零点 （波节点）作为坐标开端地点， 且坐标用 d 表示，则： E sin 2 d g 晶体二极管上的检波电压 u 正比于探针所在处 |E’|。因此上式可用 u 的归一 - 3 - 化值 u’来表示。即： u 2 u sin d umax g 晶体二极管的检波电流 I 与检波电压 u 之间的关系为： I cu n 式中 c 为比率常数， n 为检波率。 n I c sin 2 d g 式中 c’为比率常数。 当丈量线的探针插入波导时，在波导中会引入不平均性，进而影响系统的工作状态。 探针在开槽线中与电场耦合， 其成效相当于在等效传输线上并联了一个探针 支路。即探针等效为一个导纳 yp g p jb p 。此中 gp 反应探针汲取功率的大小， bp 表示在颠簸中产生反射的影响。在信号和丈量系统般配的条件下，因为 gp 的 分流作用，驻波波腹点的地点发生偏移。 但当终端断路时， 波节点不偏移。 可见， gp 和 bp 将造成偏差。为了减小丈量偏差，一定要减小或除去 gp 和 bp 的影响。减 小 gp 的影响，能够适合减小探针插入的深度； 除去 bp 的影响要依赖调谐来达到。探针的调整方法： 1．在信号源有足够输出和检波指示器有足够的敏捷度的条件下， 应尽量取较小的探针插入深度。 2． 将丈量系统短路时，将探针移至相邻两个波节之间正中地点（即波腹 点上），调理探头的调谐活塞，直至输出指示最大。此时 bp 已达到最 小。 需要指出的是，当信号源的频次或探针插入深度改变时，一定从头对探针进 行调整。 - 4 - 三、实验仪器及线路图 四、实验内容与步骤 1．调整丈量线 1） 开启信号源。对波导系统的 XB9A 操作时，直接翻开“电源”开关即可，经过 20 分钟左右信号输出稳固。 2） 按图 1－1 连结实验线路图（接