应力筛选冷热冲击试验箱.docxVIP

应力筛选冷热冲击试验箱 为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围 及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费 用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试 验。（需把握在失败机制依然未受影响的条件下 ）RAMP试验条件标示为： Temperature Cycling或Temperature Cycling Test也就是温度循环（可控制斜率的 温度冲击）。 设备特点 一机可执行AMP （等均温变）、三箱冲击（TC）、两箱冲击（TS）、高温储存、 低温储存功能 ?等均温速率可设定范围5°C?30C（4（rC） 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559 . MOTO、 IEC?6OO68?2?I4NB、JESC22?A14C、IPC-9701...等试验要求 ?采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行 ?除而周期三天除霜一次，每次只需1小时完成 ?通信配置RS232接口和USB储存曲线下裁功能 ?机台多处报警监测，配置无线远程报警功能 应用标准 1-GB/T 10589-1989低温试貌箱技术条件 GB/T 11158-1989高温试验箱技术条件 GB/T 10592-1989上下温试验箱技术条件 试验A：低温试验方法 试验B：高温试验方法 试验N:温度变化试验方法 986 iWj温试验 1986 低温试验 满足无铅制程、无铅辑锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-I4NB. JESC22?A14C、IPG970I…等试验要求 产品标准 厂商 名称 1* J ilUL 低温 r 循环时 间 备注 MIL-STD-2164 、 GJB-1032-90 电子产品应力筛选 T作 极限 温度 T.作 极限 温度 5 C /min 1()? 12 3h2()min — MIL?344A416 电了设备环境应力 筛选 备系 设或统 7KC ?54C 5 C /min 10 ， ,一 MIL-2164A-I9 电子设备环境应力 筛选方法 工作 极限 温度 io r /min 10 驻留时间为内 部到达指定温 度10C时 NABMAT-9492 美军海军制造筛选 备系 设或统 55 r .53C 15 C /min 10 驻留时间为内 部到达指定温 度5C时 GJB/Z34-5.L6 电子产品定成环境 应力筛选指南 组件 85C ?55°C i5 r? /min S25 到达温度稳定 的时间 设备 70C ?55C 5 C wio ........ 到达温度稳定  电子产品定量环境 应力筛选指南 系 或统 /min 的时间 笔记本电脑 主板 厂商 85-C ?40C 15 C /min 技术参数 Models BYR-A3 BYR-B3 BYRC3 BYR-D3 Inside Dimensions W x D x H cm 40X35X35 50X40X40 60X50X50 70X60X60 Outside Dimensions W x D x H cm 140X165X165 150X180X175 160X195X185 170X240X193 Prccool/Prchcat Range -OO.OOX? —-75.oor/+60.00X??+200.(K)C Time Range 0 hour 1 min ?9999 hour 59 min/segment Resolution 0.01C /min Temperature Unifbnnity 士3.00C 以内(underC3.00°C) Range of temperature variation(*C/min) 5.C-3(TC/min (Three boxes)range of box brushing ?65C?150C ±2.0(TC以内(under±2.00C) (Two boxes)range of box brushing ?55C ?150C ±2.00C 以内(under ±2.00C) J ?住看试验条件 ?行看RAMP试验温变率列表 ?温度可控制速率列表 30“C/min— 电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入 电阻电容温度循环 MOTOROLA 压力传感器温度循环试验 28*C/min—? LED汽车照明灯 25X7minT PCB的产品合格试软、测试Sn-Ag 焊剂在PCB疲劳效应 24C/min 一 光纤逐接头 20°C/min— IPC-9701、覆品技术的极端温度测 试、GS-12-120.飞涕电路板温度循 环试验PCB暴露在外界影响的ESS TSR （斜率可控制）?■! 测试方法、DELL计算