多探头多区域测试与CAE仿真方法探讨.docxVIP

PAGE 1 PAGE 1 多探头多区域测试与CAE仿真方法探讨  本文探讨了一种新的平面近场测试方法。首先给出了多探头多区域测试方法应用背景和目的，然后介绍了多探头多区域测试方法，最终给出了应用实例。  1引言  随着现代空间技术的发展，对天线的尺寸要求越来越大，现有的仿真计算手段可以很简单地计算出其理论的电性能，但是如何测出这种天线的实际方向图和电性能参数，是当前天线测量的一个难题。传统的天线方向图测量方法有远场测量方法和近场测量方法。  对于远场测试而言，对于较大口径的天线，测量其天线特性有很多困难：首先需要较大的测试场地：根据远场测试条件(R=2D2/λ,D为天线直径，λ为波长)，测试场地需要使放射和接收天线之间的距离达千米甚至几千米；其次，在外场测试还存在运输、安装及环境影响等方面的困难，最终，对于非笔形波束天线，需要在测试过程中转变天线的姿态，并需要承载性能好的三维转台；另外，对于简单变形的天线，还需要确保天线姿态转变过程中安全的保型结构工装。这将导致天线测试成本昂扬、测试时间较长，并存在一定的安全风险。  用近场测量来解决这些大型天线的测试，就具有重要的现实意义。随着科学技术水平的不断发展，世界各地相继建立了大小不同、形式各异的天线近场测量系统，在各种近场扫描技术中，平面近场测量受到重视。据悉，目前绝大部分的平面近场都是单探头型，测试速度慢。然而，对于尺寸较大的天线，一方面现有的垂直扫描高度不能满意其采样范围需求，另一方面，根据Nyquest采样定理进行扫描测试一次时间太长且工作量太大。法国的Satimo公司,研制成功一种多探头的近场测量系统,西安海每天线公司对引进的SG128球面近场多探头测试系统进行了创新改造工作，这种系统测试速度比传统的二维远场测试法速度提高约40倍，但是这种测试系统适应于小型宽波束天线系统测试；另外，这一测试系统的软件和硬件与平面近场扫描系统有根本的区分，且轴向尼龙推力轴承承载的重量有限，不能承载重量达到吨级的天线。  如何利用现有的暗室和平面近场测试系统，采用较低的成本、精确、快速、高效的方法，完成一些特定天线的测试，是当前的一个重要的研究方向。为此，我们开展了多探头多区域测试方法探讨。  2多探头多区域测试方法介绍  现有的近场测试系统见图1，习惯上平面近场测量用矩形网格进行采样。本文的多探头多区域就是在此基础上，对图1中的扫描架（承载探头）部分进行局部改造实现的。所谓多探头，就是在原来单探头的基础上，增加探头的数量，使得天线测试过程中可以通过微波开关的掌握，将单个探头的任务安排给多个探头与扫描架的运行同步完成，从而提高测试效率，有效地缩短测试周期。所谓多区域，就现有的平面近场测试系统而言，可以依据被测天线的扫描范围需求，将扫描平面在水平和\或垂直方向上进行区域分割（或扩展后再分割），不同的区域由不同的探头进行扫描，这些探头通过结构过渡件安装在扫描架上，并且通过伺服机构的掌握实现同步采样。各个探头在不同区域的采样数据经过误差分析与数据处理后，进行拼接成为一个完整的同一平面上的二维采样数据，然后依据近场推远场波瓣的公式推算出天线的远场波瓣性能。 图1近场测试系统 2.1双探头双区域测试  为了实现对较大口径反射面天线的二维方向图的测试，充分利用现有的暗室顶空资源，确保天线垂直向较高的测试范围，并提高测试效率，开展了双探头双区域测试。下面给出该测试方法的介绍。  采用现有的单扫描架，通过对扫描架安装探头的部分进行局部改造，设计加工一个安装双探头的结构过渡件，可以实现双探头双区域测试。该测试方法是通过将两个电性能全都的探头装在过渡件的上下两端，探头后面接幅相全都性良好且稳幅稳相的电缆（幅相全都性要求与被测天线的频段有关），从而构成两个采样性能全都性良好的采样通道；探头之间的距离Dy或D为垂直采样间距的整数倍；结构过渡件的机械尺寸和稳定及形变参数满意电性能要求，以确保两个探头在扫描运行过程中采样点为同一平面上矩形网格点。两个探头与扫描架同步运行，在伺服机构的掌握和驱动下，分别完成各自运行区域的采样。然后对采样得到的两组数据进行误差补偿与数据处理，然后拼接成同一扫描平面上的近场采样数据，最终依据近场推远场的公式计算得到远场波瓣图及电性能参数。 图2单扫描架双探头垂直双区域示意图 本文探讨了一种新的平面近场测试方法。首先给出了多探头多区域测试方法应用背景和目的，然后介绍了多探头多区域测试方法，最终给出了应用实例。  1引言  随着现代空间技术的发展，对天线的尺寸要求越来越大，现有的仿真计算手段可以很简单地计算出其理论的电性能，但是如何测出这种天线的实际方向图和电性