MicroLED 产线实验设备清单v0.xlsxVIP

1 2 3 4 5 6 7 8 11 12 序号 设备 规格 X射线衍射仪XRD 可见分光光度计 四点探针台 白光干涉仪 功能 EL测试仪 EL（场致发光）IV特性测量 品牌 薄膜微观结构分析 薄膜材料透过率及反射率 方块电阻检测 薄膜形貌检测 基恩士 Keyence 苏州弗士达 日立 Hitachi 示波器 辉度记（光度计） 高解析度镜头 Tektronix 型号：TDS2014C 电源供应器：GW instek PST-3202 测量LED亮度、色温、对比度的测定 光学显微镜 Olympus/尼康 Four Dimensions (简称：4D)/RDS 量测电讯号 配置要求 工艺要求 测量波长范围：190nm-1750nm 波长准确度：±0.1nm 1、满足液体和固体样品测试的广泛要求 ● 稳定的光学系统保证精确分析；（U-3900 单光栅单色器，U-3900H双光栅单色器） ● 有190-900nm和190-1100nm两种波长范围供选择，采用PMT检测器，满足高灵敏度的测试要求 ● 根据应用可选择大量的附件 ● 新版数据处理软件UV Solution支持您的量化分析多样化 ● PC机控制机USB数据通讯 2、仪器技术特点： ● 波长准确度：±0.1nm ● 吸光度测试范围：-3.8～3.8Abs（U-3900） -5.5～5.5Abs(U-3900H) ● 基线稳定性：0