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实 验 报 告
00 系 2007 级 姓名 宁盛嵩 日期 2008-11-17 NO 八号台
实验题目: PN 结正向压降温度特性的研究 84
实验目的: (1)了解 PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。
在恒流供电条件下,测绘 PN 结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测 PN 结材料的禁带宽度。
学习用 PN 结测温的方法。
实验原理
理想 PN 结的正向电流 IF 和压降 VF 存在如下近似关系
qV
I ? Is e x p ( F ) (1)
F kT
其中 q 为电子电荷;k 为波尔兹曼常数;T 为绝对温度;Is 为反向饱和电流,它是一个和PN
结材料的禁带宽度以及温度等有关的系数,可以证明
Is ? CT r
qV
e x p?[ g
(0)
] (2)
kT
其中 C 是与结面积、掺质浓度等有关的常数:r 也是常数;Vg(0)为绝对零度时 PN 结材料的导带底和价带顶的电势差。
将(2)式代入(1)式,两边取对数可得
? k c ? kT
V ? V (0) ? ? In ?T ? I n Tr ? V ? V
(3)
??F g q I q
?
?
F
其中
? k c ?
1 n1
V ? V (0) ? ? In ?T
F1 g ? q I ?
F
KT ? ?
V ? ? I n Tr
n1 q
这就是 PN 结正向压降作为电流和温度函数的表达式,它是 PN 结温度传感器的基本方程。令
IF=常数,则正向压降只随温度而变化,但是在方程(3)中,除线性项 V1 外还包含非线性项 Vn1
项所引起的线性误差。
设温度由 T1 变为 T 时,正向电压由VF1 变为 V ,由(3)式可得
F
? ?T kT ? T ?r
V ? V (0) ? V (0) ? V ? 1 ? ?
(4)
??F g g
?
?
F1 T
1
q n T
1
按理想的线性温度影响,VF 应取如下形式:
?V
V ? V ???F1 (T ? T ) (5)
F理想 F1 ?T 1
?V
F1 等于 T1 温度时的
?VF 值。
?
?T
由(3)式可得
T
?V V
? F1 ? ? g
(0) ? V
F1
? k r (6)
T T q
1
所以
V ? V
? V ? V
g F1
? k ??
T ?? V
(0) ? ?V
(0) ? V
?T ? k ?T ? T
?r (7)
理想 F1
? ??
?
r? T
T q ? 1 g
g F1 T q 1
1 1
由理想线性温度响应( 7)式和实际响应( 4)式相比较,可得实际响应对线性的理论偏差为
? ? V
? V ? ? k
r?T ? T
?? kT
T
Ln( )
r (8)
理想 F q
1 q T
1
当温度变化范围增大时,VF 温度响应的非线性误差将有所递增,这主要由于 r 因子所致。PN 结测温的依据:在恒流供电条件下,PN 结的 VF 对 T 的依赖关系取决于线性项 V1,即正向
压降几乎随温度升高而线性下降。
必须指出,上述结论仅适用于杂质全部电离、本征激发可以忽略的温度区间 (对于通常的硅二极管来说,温度范围约-50℃—150℃)。如果温度低于或高于上述范围时,由于杂质电离因子减小
或本征载流子迅速增加;V —T 关系将产生新的非线性,这一现象说明 V —T 的特性还随 PN 结的
F F
材料而异,对于宽带材料(如 GaAs)的 PN 结,其高温端的线性区则宽;而材料杂质电离能小(如Insb)的 PN 结,则低温端的线性范围宽,对于给定的 PN 结,即使在杂质导电和非本征激发温度范围内,其线性度亦随温度的高低而有所不同,这是非线性项Vn1 引起的,由Vn1 对 T 的二阶导数
d 2V
n1
1 dV
?可知 n1
?
的变化与 T 成反比,所以 V
-T 的线性度在高温端优于低温端,这是 PN 结温
dT 2 T dT F
度传感器的普遍规律。此外,由(4)式可知,减小 I ,可以改善线性度,但并不能从根本上解决
F
问题,目前行之有效的方法大致有两种:
1、对管的两个 be 结(将三极管的基极与集电极短路与发射极组成一个 PN
结),分别在不同电流 I ,I
下工作,由此获得两者电压之差(V
- V )与温度成线性函数关系,
F1 F2
即
F1 F2
V ? V
F1 F 2
kT I
?In F1
?
q I
F 2
由于晶体管的参数有一定的离散性,实际与理论仍存在差距,但与单个 PN 结相比其线性度与精度均有所提高,这种电路结构与恒流、放大等电路集成一体,便构成集成电路温度传感器。
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