EDAX能谱应用问题.docxVIP

能谱应用问与答 问：能谱仪的最正确工作距离是多少？ 答：能谱仪的最正确工作距离应当为交汇距离，该数值在每一台仪器的探头手册中能够查到。实际数值由于加工误差与安装偏差经常会与理论数值略有不同。实际数值能够经过 改变WD（工作距离），找到最大CPS（计数率）的地点来确定。不同的SEM的拥有不同交汇距离：Sirion系列=5mm，Quanta系列=10mm，S-4000系列=12mm，JSM-6360系列=15mm等等。 问：为什么有时CPS（计数率）很小？ 答：CPS（计数率）在仪器工作正常时，与电镜加快电压、束流（束斑尺寸）、工作距离以及电镜电子束对中状态相关，同时还与样品状态相关（非平整样品的高部位遮挡、察看表面的倾斜、察看区的物质组成等）。电压低、束流（束斑尺寸）小、工作距离偏离交汇距离都会造成CPS减小，而关于粗拙样品表面，在察看低凹处时，X-射线出射方向如果有高点遮挡，必定造成CPS值下降。 问：使用中CPS（计数率）变大是何原因？ 答：CPS数值的变化是信号强度的变化。能谱探头能够接收X-射线、各样高能粒子、振 动、光波、无线电波等信号。因此，环境条件的改变是会惹起CPS的变化的。对谱 图的影响为低能端的噪音峰和背底形状的改变。在使用中最常有到的CPS的突然增 大，往常为液氮即将耗尽。由于罐底噪音和探头温度的变化造成谱峰变宽、背底增 高、噪音峰增高等现象的出现。解决办法为加入液氮并从头启动能谱仪。在实践中，我们还发现由于电子束对中不良，也会造成CPS值异样。即CPS值并不随束流的增减而增减，而是会发生突然的变化。 问：最正确CPS（计数率）应当为多少？ 答：最正确CPS（计数率）值应当为DT%（死时间）在20%~40%之间。往常做定性定量 剖析，CPS值能够使用2,000~3,000；做线面散布图采集建议CPS值采用5,000~10,000（AmpTime放大器时间常数需要做相应设定）。 5.问：为何有时CPS值不高，但DT%较高？ 问：怎样进行“超轻”元素的定量校正？ 答：“超轻”元素的定量校正能够采用SEC因子和EDAX轻元素调整因子两种方法。在分 析样品种类相对固定的情况下，能够采用该种类化合物标样确定“超轻”元素的调整因子。但该轻元素调整因子仅合用于该类样品，剖析范围有限制性。SEC因子法应用范围较宽，能够合用于各类样品及各样含量范围的“超轻”元素的定量校正。但SEC因子法需要对不同种类的样品及各个不同的含量范围分别成立SEC校正因子。 问：怎样使用已经成立的SEC因子？ 答：由于在定量校正前并不知道该“超轻”元素的含量范围，因此在选择SEC因子时带 有一定的盲目性。SEC因子采用是否适合的标准为：定量校正的结果与成立该SEC 因子所用样品该元素的含量靠近。在两含量相差较大时，应考虑换用其余SEC因子 从头校正定量。 问：逃逸峰是怎样产生的？可否自动扣除？ 答：由于检测器由硅材料制成，因此关于X-射线能量高于SiK谱线的其余特点谱线均能够激发检测器产生SiK谱线的信号。一旦该信号射出检测器，则使入射信号减少了 激发SiK谱线所需的能量并被探头所剖析，进而形成能量低于原激发谱线的逃逸 峰。能谱剖析程序不单能够显示逃逸峰的地点，而且能够自动扣除。经过Spectrum–Proc-Escape 问：为什么有时采集不到图像？ 答：关于大部分电镜的图像采集通道只有一条，即Det=1。如果Det为其余值就收不到图 像信号。别的错误的图像灰度范围设置也会表现为收不到图像。正确的灰度范围为： Smin=0，Smax=4095。 问：怎样调整图像的亮度和对照度？ 答：在图像采集界面的右下方有一个独立的扩展箭头。点击该箭头即可翻开图像的亮度和对照度调整界面。 问：怎样进行图片的文字标明？ 答：在图像界面进行文字表注点击快捷图标中的T即可进入文字标明对话框。该对话框以 十字标第四象限为起点向右排列。经过该对话框还能够把点剖析、小地区剖析的地点进行标明，对长度测量的结果进行图像标明等。 问：为什么有时线/面扫描图看不出散布？ 答：在没有选错元素的时候只有一个答案：信号强度太低。加大CPS值或增加停留时间。 问：为什么有时LiveSpectrumMapping在重建面散布图时，不同的面散布图之间没有差别？ 答：原因为采集时每个像素点的停留时间多短。建议停留时间当cps在5000~7000时，采 用标准方式时，停留时间不少于50ms为宜；采用迅速方式时，帧积分不少于30帧。 问：在多样品座、多视场剖析中，怎样保留和调用视场设定坐标？ 答：在多样品座或单调样品座多视场的自动剖析中，在视场设定的地区点击鼠标右键，就会弹出对话框。以此对话框保留设置达成的样品座与各视场定位坐标，或从头调入从前保留并适于本此使用的样品座于各视场坐标。 问：在相/粒