X射线荧光仪器解析总结计划误差的来源.docVIP

北京邦鑫伟业技术开发有限企业 射线荧光仪器分析偏差的根源 X射线光谱分析仪的利害常常是以X射线强度丈量的理论统计偏差来表示 的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳固性和再现性，已足以保证待测样品分 析丈量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析正确度的至关重要的要素， 在样品制备方面所花的时间将会反应在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析 偏差的根源主要有以下几个方面： 1．采样偏差： 非均质资料 样品的代表性 2．样品的制备： 制样技术的稳固性 产生均匀样品的技术 3．不合适的标样： 待测样品能否在标样的构成范围内 标样元素测定值的正确度 标样与样品的稳固性 4．仪器偏差： 计数的统计偏差 样品的地点 1 北京邦鑫伟业技术开发有限企业 敏捷度和漂移 重现性 5．不合适的定量数学模型： 不正确的算法 元素间的搅乱效应未经校订 颗粒效应 纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素系统中，已经证明一些元 素的强度与汲取和加强效应相关，这些效应能够惹起某些元素的强度增添和另一 些元素的强度减小。图1列举了强度与研磨时间的关系：①粒度的减小，惹起铁、 硫、钾的强度减小，而使钙、硅的强度增添。②跟着粒度减小至某一点，强度趋 2 北京邦鑫伟业技术开发有限企业 于稳固。③较低原子序数的元素的强度随粒度的减小有较大的变化。 矿物效应 2中样品为用不一样矿物配成的水泥生料。标为“I”的样品是用石灰石、页岩和铁矿石配成的。标为“F”的样品含有同样的石灰石和铁矿石，但硅的根源是用砂岩取代了页岩。两组原料用同一设施办理，用同一研磨机研磨，每一个样品约 85%经过200目。图2表示这种强度—浓度上的变化第一反应了硅的根源不一样，“I”的硅来自页岩，“F”的硅来自砂岩。但是两组样品的进一步研磨指出这不过是一个粒度效应问题。图3表示在所有样品经研磨机粉研到325目（44μm）此后，两组样品的实验点均落在同一曲线上。 3 北京邦鑫伟业技术开发有限企业 4 北京邦鑫伟业技术开发有限企业 元素间汲取—加强效应 任何资料的定量X射线荧光分析要求元素的丈量强度与其百分含量成正比， 在岩石和矿物（由两种或两种以上矿物的组合）这种复杂的基体中，因为试样内 其他元素的影响，元素的强度可能不直接与其含量成正比。一般以为，多元素体 系中 这种 非线 性是 由元 素间 效应 惹起 的。元 素间 效应能够是加强效应或汲取效应，也能够是同时包含这两种效应。仍以图2、图 3实验为例，图4表示经过简单的研磨能够改良CaO的分析结果。图5表示校 正钾对钙的搅乱后，两组样品的实验点均落在同一曲线上。 5 北京邦鑫伟业技术开发有限企业 6 内容总结 （1）北京邦鑫伟业技术开发有限企业 射线荧光仪器分析偏差的根源 X射线光谱分析仪的利害常常是以X射线强度丈量的理论统计偏差来表示 的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳固性和再现性，已足以保证待测样品分 析丈量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析正确度的至关重要的要素， 在样品制备方面所花的时间将会反应在分析结果的质量上