AECQ101中文标准规范.docx

基于离散半导体元件应力 测试认证的失效机理 内容列表 AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理附录 1: 认证家族的定义 附录 2: Q101 设计、构架及认证的证明附录 3: 认证打算 附录 4: 数据表示格式 附录 5: 最小参数测试要求 附录 6: 邦线测试的塑封开启 附录 7: AEC-Q101 与强健性验证关系指南 附件 AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (废止) AEC-Q101-003: 邦线切应力测试 静电放电试验–带电器件模型AEC-Q101-004: 同步性测试方法AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型 AEC-Q101-006: 12V 系统灵敏功率设备的短路牢靠性描述 感谢 任何涉及到简单的技术文件都来自于各个方面的阅历和技能。为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大奉献的人： 任何涉及到简单的技术文件都来自于各个方面的阅历和技能。为此汽车电子委员会由衷承 认并感谢以下对该版文件有重大奉献的人： 固定会员: Rick Forster Continental Corporation Mark A. Kelly Drew Hoffman Steve Sibrel Gary Fisher Eric Honosowetz Delphi Corporation Gentex Corporation Harman Johnson Controls Lear Corporation 技术成员: James Molyneaux Analog Devices Joe Fazio Nick Lycoudes Werner Kanert Scott Daniels Mike Buzinski Bob Knoell Zhongning Liang Mark Gabrielle Tom Siegel Tony Walsh Bassel Atallah Arthur Chiang Ted Krueger [Q101 Team Fairchild Semiconductor Freescale Infineon International Rectifier Microchip NXP Semiconductors NXP Semiconductors ON Semiconductor Renesas Technology Renesas Technology STMicroelectronics Vishay Leader]Vishay 其他支持者: John Schlais Continental Corporation John Timms Continental Corporation Dennis L. Cerney International Rectifier Rene Rongen NXP Semiconductors Thomas Hough Renesas Technology Thomas Stich Renesas Technology 本文件是特地的纪念： Ted Krueger (1955-2023) Mark Gabrielle (1957-2023) 留意事项 AEC AEC 文件中的材料都是经过AEC 技术委员会预备、评估和批准的。 AEC 文件是为了效劳于汽车电子工业，无论其标准是用在国内还是国际上，都可排解器件 制造商和选购商之间方面的不全都性，推动产品的提高和可交换性，还能帮助选购商在最小的时间耽误内选择和获得那些非AEC 成员的适宜的产品。 AEC 文件并不关注其承受的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺。AEC 没有认为对专 利拥有者担当责任，也没有认为要对任何承受 AEC 文件者担当义务。汽车电子系统制造商 的观点主要是AEC 文件里的信息能为产品的说明和应用供给一种很完善的方法。假设所陈述的要求在本文件中不存在，就不能声称与本文件具有全都性。 与 AEC 相关文件的疑问、评论和建议请登录链接AEC 技术委员会网站。本文件由汽车电子委员会出版。 此文件可以免费下载，但是 AEC 拥有版权。由于该下载方式，个人需同意不会对该文件索价或转售。 在美国印制 全部權限保存 版权?2023 属于汽车电子协会。本文件可自由转载,但未经 AEC 技术委员许可，本文件制止任何修改。 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理 以下划线局部标示了与上版文件的增加内容和区分，几个图表也作了相应的修正，但是这几处的更改并没有加下划线强调。 除非这里另有说明，无论认证或重认证，此标准的生效日期同上面的公布日期。1.范围 本文件包含了离散半导体元件〔如晶体管，二极管等〕最低应力测试要求的定义和参考测试条