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Agilent N897X噪声系数测试仪 当前第29页\共有58页\编于星期五\13点 当前第30页\共有58页\编于星期五\13点 噪声源（一） 测量噪声指数的方法，是根据注入接收机的已知噪声来观察接收机的输出响应。这个噪声源通常大多数是白噪声它也是热噪声。热噪声是电子随机运动的结果。这种噪声在领域内是等能分布，因而它就具有标形或高斯平稳分布的常数功率密度。噪声源必须能够产生—个有效的噪声功率，大于被测量元件的噪声功率。有几种常用的噪声源，它们是正向偏压半导体二极管、限温二极管、气体放电管和热／冷电阻源。 当前第31页\共有58页\编于星期五\13点 噪声源（二） 　　　雪崩二级管（Avalanche Diode）产生噪声激励信号的等效电路（匹配网络的存在是考虑到DUT的接入可能会改变噪声源的阻抗！）。最常用的噪声源是：二极管和气体放电管，它们分别可达到几百MHz和几十GHz。例如，气体放电管和饱和二极管噪声源的等效输出噪声温度通常为10000～20000K，用ENR(dB)表示为l5.2～l 8.3dB。 当前第32页\共有58页\编于星期五\13点 　　　任何宽带噪声的产生都只可能是类白噪声的而不可能是理想的，所以噪声源在出厂时会配有一个ENR表反映噪声源的特性，以便在有同频段测量时用于精确地计算和校正！ 噪声源（三） 当前第33页\共有58页\编于星期五\13点 几种噪声源的主要指标 ENR范围 注：15dB 的ENR更适用于通常测量，可以测量达30dB的噪声系数，而6dB的ENR适用于极低噪声系数的测量（噪声检波器可以有较好的线性度）。 工作频段： 噪声源（四） 当前第34页\共有58页\编于星期五\13点 ENR精度 当前第35页\共有58页\编于星期五\13点 典型器件的噪声系数测试 当前第36页\共有58页\编于星期五\13点 可分析的器件或系统 当前第37页\共有58页\编于星期五\13点 基本测量模式 放大器（无频率转换）的噪声系数和增益测量流程 开机（欲获得更高的精确性，建议等候NFA 预热至少一小时） 输入超噪比ENR 数据 设置测量频率 设置带宽和平均 校准分析仪 显示测量结果 当前第38页\共有58页\编于星期五\13点 输入超噪比ENR 数据（一） 第一种类型例如Agilent 346B 是一种正常的噪声源，这些噪声源的ENR 数据需要使用以前存储在磁盘上的ENR 数据或者使用小键盘以手动方式输入； 另一种类型例如Agilent N4000A 是智能噪声源SNS 可以自动或经请求上载数据。 当前第39页\共有58页\编于星期五\13点 输入超噪比ENR 数据（二） 当前第40页\共有58页\编于星期五\13点 设置测量频率 在设置您希望测量的频率之前您需要选择一个频率模式共有三种频率模式可供使用： Sweep 扫描 在扫描频率模式中设置进行扫描的起始和终止频率或等值中心和范围频率，您还需要设置测量点数这些测量点在频率范围中均匀分布，最大点数为401，默认点数为11。所选频率点数越大测量所需的时间越长） List 清单 清单频率模式允许您在进行测量的位置输入频率点，这将允许您在覆盖范围小于扫描模式中覆盖范围的相关区域指定测量点可允许非均匀分布的测量点。频率单限制为401个条目。 Fixed 固定 在单一固定频率进行频率测量 当前第41页\共有58页\编于星期五\13点 噪声系数测试的基本概念 噪声系数测试原理 典型器件的噪声系数测试 当前第1页\共有58页\编于星期五\13点 噪声系数测试的基本概念 当前第2页\共有58页\编于星期五\13点 器件性能对信号质量的影响（一） 当前第3页\共有58页\编于星期五\13点 器件性能对信号质量的影响（二） 当前第4页\共有58页\编于星期五\13点 噪声的来源 当前第5页\共有58页\编于星期五\13点 噪声的分类 热噪声(Thermal Noise/Johnson Noise) 散粒噪声（Shot Noise） 闪烁噪声1/f噪声（Flicker） 当前第6页\共有58页\编于星期五\13点 热噪声 它是由于导体中自由电子的无规则热运动形成的噪声。因为导体具有一定的温度，导体中每个自由电子的热运动方向和速度不规则地变化，因而在导体中形成了起伏噪声电流，在导体两端呈现起伏电压。电阻产生的起伏噪声电压均方值 ： 式中：k为玻耳兹曼常数,k=1.38?10-23J/K； T为电阻温度, 以绝对温度(K)计量,对于室温17℃, R为电阻的阻值；Bn为测试设备的通频带。 电阻热噪声的功率谱密度是与频率无关的常数。通常把功率谱密度为