SJ 3233-2008真空电子器件电子枪支架玻杆.pdf

tCS: 31.030L: 90S.备案号：23326-2008中华人民共和国电子行业标准SJ/T 3233--2008代替SJ 3233-—89真空电子器件电子枪支架玻杆Vacuum electronic apparatus electronic gun bead glass2008-03-10 发布2008-03-10实施中华人民共和国信息产业部发布SJ SJ/T 3233-—2008前言本标准与SJ3233一89主要差异如下：修改了规范性引用文件；修改和补充了品种规格、技术要求、试验方法等内容；修改和补充了检验规则、包装运输等内容。本标准代替SJ3233一89。本标准由中华人民共和国信息产业部归口。本标准主要起草单位：北京旭硝子电子玻璃有限公司负责起草。本标准主要起草人：孙海龙、李秋玲、陈钊、刘筠。 SJ/T 3233—2008真空电子器件电子枪支架玻杆1范围本标准规定了真空电子器件用支架玻杆（简称支架玻杆）的品种规格、技术要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标灌的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用宇本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T2828.1逐批检查计数抽样程序及抽样表GB 5594.5电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法SJ/T10894/电子玻璃中氧化锂、氧化钠和氧化钾的原子吸收分析SJ/T10902：电子玻璃中二氧化硅的分析SJ/T 10903电子玻璃中三氧化二硼的分析察SJ/T11033←电子玻璃密度的测试方法一浮力法茶SJ/T11034“电子玻璃直流击穿强度测试方法SJ/T11036°电子玻璃平均线热膨胀系数测试方法SJ/T11038「电子玻璃软化点测试方法—SJ/T11039电子玻璃退火点和应变点测试方法要求33.1规格、尺寸支架玻杆规格按需方图纸的要求确定。尺寸及偏差，应符合表1的要求，表1之外由供需双方协商确定。表1单位为毫米t高度长度宽度偏差检验方法标称尺寸偏差检验方法偏差检验方法标称尺寸标称尺寸4.14. 1≤7.50±0. 254.1≤4.00±0.25≤40. 00±0.40±0.504. 140. 00~65. 00±0.304.17.50±0.304.14.0065. 00±0.704. 13.2化学组成支架玻杆玻璃的化学组成应符合表2的规定。 SJ/T 3233--2008表2单位为毫米质量(%)检验方法化学组成1ISi0278.9±1.079. 5±1. 04. 24. 3B:0s18. 7± 0. 518. 7±0. 54. 4K.02.4±0.21.8±0.23.3物理性能支架玻杆玻璃及支架玻杆的物理性能应符合表3的规定。表3求要单位指标名称检验方法II1(26.5±1.5）×℃-1平均线热膨胀系数（0℃～300℃）(27.5±1.5）×1074.510-7软化℃4. 6点810±10820±10(Log n=7. 65)退C火今4.7(Log n=13. 0)520±10520±10应℃4.8变A(Log n=14. 5)460±10460±10体积电阻率通常16(Log p） 150℃?·cm通常 154. 9350℃.α·cm通常 10通常 11密度g/cma4.102.15±0.052.14±0.05度软化广4.111. 75±0. 151. 65±0.15kV /mm≥120直流击穿强度(支架玻杆)≥1204. 12颜色3.4由于添加不同的颜料，支架玻杆呈白、黄、蓝、桃红或其它颜色，色泽应均匀一致。由供需双方协商确定支架玻杆的颜色和验收标准。3.5外观支架玻杆的外观应符合表4的规定。如有特殊要求，供需双方协商确定。表4项目检验标准检验方法裂纹不得有肉眼可见的裂纹平均直径在0.2mm～0.4mm以内的气泡D区允许有1个，其它区域允许有3个泡气平均直径大于0.4mm的气泡不允许存在直径0.2mm以下的气泡忽略不计，相连气泡按1个计4.13不允许超过0.4mm锐利缺口0.3mm～0.4mm范围的缺口不得超过3个缺A0.3mm以下的缺口可忽略不计平滑缺口不允许有超过1.0mm的平滑缺口2 SJ/T 3233—2008表4 (续)准检验方法检 验标项目尺寸为0.6mm～1.0mm的允许有3个4. 12缺口平滑缺口尺寸小于0.6mm的平滑缺口忽略不计划伤不得有影响使用的划伤不得有平均直径超过0.7mm的异物直径在0.5mm～0.7mm范围的异物①D区不允许有②两端允许有1个③其它区域不允许肴It直径在0.3mm～0.5mm范围的异物①D区不允许有人4.12