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均匀线阵中锥化波束形成与波瓣性能的关系 0 波束形成和波瓣控制 波束形成包括将多个接收天线接收到的信号合成，并将波束主瓣的方向方向方向延伸。同时，可以在干扰入射方向上形成一个点，以抑制干扰，减少信号检测的影响。 由于波束形成能灵活地控制波束指向和干扰零点,该方法得到了深入广泛的应用。波束形成通常使用均匀加权和锥化的方法,均匀加权波束形成可以消除目标回波信号到达各阵元时的相位差,使信号同相相加;锥化波束形成除了具有均匀加权波束形成作用外,还可以进一步提高波束波瓣的主副比,从而可以进一步抑制旁瓣干扰。 讨论了当均匀线阵中存在缺损阵元时波束方向图受到的影响,比较在有阵元缺损时,均匀加窗波束形成和锥化时的波瓣的变化。 1 目标方向上的多个阵元信号 在各阵元信号进行均匀加权波束形成时,各阵元的权系数幅度相同,相位依次相差一个固定值。在不考虑噪声的情况下,缺损阵元的输入信号为0。 对于N阵元窄带天线阵,波束形成可以表示为: y(θ)=wΗx(θ)(1) 式中:x(θ)=[x1(θ),x2(θ),…,xN(θ)]T,表示目标在θ方向时,N个阵元的入射信号;xk(θ)可表示为: xk(θ)=e-j2π(k-1)dsinθλs(2) w=[w1,w2,…,wN]T为N个阵元信号的复数加权。波束指向为θB时,在均匀加权的情况下,波束形成结果为: y(θ)=sin[Νπλd(sinθ-sinθB)]sin[πλd(sinθ-sinθB)]ej(Ν-1)πdλ(sinθ-sinθB)s(3) 方向图函数为: B(θ)=20log(|y(θ)|)(4) 1.1 波束形成器的模拟 当阵元缺损时,缺损阵元没有入射信号。假设整个阵面中仅有一个损坏阵元,且为第kd个阵元,则阵列的输入信号变为: x′(θ)=[x1(θ),x2(θ),?,xkd-1(θ),0,xkd+1(θ),xΝ(θ)]Τ(5) 波束形成的输出为: y′(θ)=y(θ)-ej2πkdd(sinθB-sinθ)λs=[Ν-1∑k=0ej2πkdd(sinθB-sinθ)λ-ej2πkdd(sinθB-sinθ)λ]s(6) 其模值平方为: |y′(θ)|2=sin2Νπλd(sinθ-sinθB)sin2πλd(sinθ-sinθB)|s|2+Δ(θ)|s|2(7) 式中: Δ(θ)=1-2sinΝπλd(sinθ-sinθB)sinπλd(sinθ-sinθB)?cos[(Ν-1-2kd)πλd(sinθ-sinθB)](8) 式(7)中:右边第一项为阵元全部完好时,波束形成器的输出;右边第二项为缺损阵元对波束形成器输出的影响。当波束指向与目标方向相同时,Δ(θB)=1-2N,波束主瓣幅度减小,且与缺损阵元位置无关。而目标处于其他方向时,主瓣峰值随目标方向变化而变化。考虑如下均匀线阵:阵元数为16,阵元间距为0.075 m,雷达发射的信号波长为0.15 m,假定阵元接收到的信号幅度均为1,即不考虑噪声的影响。结果如图1所示,当阵元全部完好时,主瓣峰值为24.082 dB,而有一个阵元缺损时,不论缺损阵元处于什么位置,主瓣峰值均为23.521 8。 1.2 缺损阵元位置 与时域滤波器对信号进行截断产生Gibbs效应类似,均匀线阵阵元个数的有限性引起波束方向图存在旁瓣。如果阵列中存在缺损阵元,阵元数据在缺损处再次被截断,必然会加剧截断效应,主瓣宽度和主副比发生变化。缺损阵元位置不同时,截断情况不尽相同,因此缺损阵元的位置必然会影响主瓣幅度、主瓣宽度和主副比的变化。对于第1.1节中的均匀线阵,阵元全部完好时,主瓣3 dB宽度为6.30°,主副瓣幅度比为13.23 dB,主瓣峰值为24.082 4 dB(见表1)。 图1给出缺损阵元在不同位置时的波束方向图,结合表1可以看出方向图的主瓣峰值的变化不受缺损阵元位置影响。主瓣3 dB宽度随缺损阵元位置有稍许变化,缺损阵元在最边缘时,为6.80°;缺损阵元在中心位置时,主瓣3 dB宽度为6.12°。从图1还可以看出,第一副瓣与主瓣的幅度比也在一定程度上受缺损阵元位置的影响。 2 波束的锥化运算 与均匀加权波束形成不同,在进行锥化波束形成时,各阵元的权系数幅度不同,中间阵元的权系数幅度大,而两边的权系数幅度小,各阵元权系数的相位差也是依次相差一个固定值。 锥化截取是抑制波束旁瓣干扰的有效方法,其运算仍可用式(1)表示,其中的权系数向量变为: w=[c0,c1e-j2πdsinθBλ,c2e-j2π2dsinθBλ,?,cΝ-1e-j2π(Ν-1)dsinθBλ](9) 式中c=[c0,c1,c2,…,cN-1]为锥化波束形成所用的窗函数,常用窗函数具有中间大,两边小的特点。波束形成结果为: y(θ)=Ν-1∑k=0ckej2πkd(sinθ-sinθB)λs