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超声检测斜探头l 在a-横向波的直接接触法中检测焊接头的超声波时，斜检测的前距离l0和k值是一个非常重要的参数。现行多数超声检测标准规定,l0的测量误差≤±1 mm,K值的测量误差≤±0.1。 多年的现场超声波检测经验使笔者感到, 在不考虑探头磨损并固定其他相关条件的情况下,l0和K值随着测试声程而变化, 并不总是一个恒定值。为了获得l0和K值随测试声程变化的规律, 笔者在特定测试方式和条件下对多个不同规格探头的l0和K值进行了测定。 1 测试测试 以JB 4730.3—2005《承压设备无损检测 超声波检测》作为测试标准。 1.1 标准l0的测试 焊接接头超声检测的探头前沿l0通常在CSK-ⅠA试块上测试, 通过同心圆弧面反射的回波位置来确定, 如图1所示。当探头1找到圆弧面最高回波时, 得探头前沿l0的测试值为: l0=R?l1(1)l0=R-l1(1) 在某些情况下也可利用CSK-ⅢA试块上的横孔反射体的回波位置, 通过计算确定l0, 如图2所示。分别找出两反射体A和B的最高回波, 固定探头, 量得探头端面至试块端面的距离l1和l2, 根据三角函数关系得: K=l0+l4?40h1(2)K=l0+l2?40h2(3)Κ=l0+l4-40h1(2)Κ=l0+l2-40h2(3) 由于h2=2h1, 可得: l0=l2+40?2l4(4)l0=l2+40-2l4(4) 1.2 标准3.2回波位置的测定 测试K值时, 若已测出斜探头的前沿l0, 可通过CSK-ⅠA试块上的同心阶梯圆孔反射体的回波位置计算确定, 如图1探头2所测: K=l3+l0?3530(5)Κ=l3+l0-3530(5) 也可在CSK-ⅢA试块上, 通过测量一定深度的横孔反射体的回波位置计算确定 (图2) : K=l4+l0?40h1(6)Κ=l4+l0-40h1(6) 若尚未测出斜探头的前沿l0, 可在CSK-ⅢA试块上测定两个不同深度的横孔反射体的回波位置计算确定 (图2) , 由式 (2) 和 (3) 得: K=l2?l4h2?h1(7)Κ=l2-l4h2-h1(7) 2 超声波探伤测试 所有选用探头的主声束垂直方向上需要无双峰, 即用长输管线标准试块 (SGB试块) 上的? 2 mm×20 mm横通孔测试, 测试时使反射回波位于示波屏上80%～100%的区域, 随着探头瞬时移动可明显地识别出探头的波峰位置;水平方向上的偏离角均≤2° (用CSK-IA试块的棱角测试) 。 选用的超声波探伤仪为CST-22型, 其水平线性误差1%, 垂直线性误差5%。 测试期间最低温度为34 ℃, 最高温度为38 ℃。 3 接头k值的测量 为了控制测试的偶然性误差, 每一个测试数据均为3次测试的平均值, 且使每次最高回波的波峰分布于示波屏上的80%～100%的区域, 以便于识别。 测试的探头前沿精确到±1 mm。大晶片探头的K值的计算精度为±0.01 (并不表明其实际精度) , 小晶片探头的K值计算精度为±0.1。 为了对探头磨损造成的测量误差进行评估, 在测量结束后对所用探头采用相同的测量条件和测量方式进行复核, 其相应的l0和K值未表现出明显的差异性。 4 标准反射体的选择 选择SGB试块上R25及R50 mm圆弧面、CSK-ⅠA试块的R50及R100 mm圆弧面作为测定前沿l0的标准反射体。选择SGB试块上深5 mm的横孔和CSK-ⅢA试块上深10, 20, 30, 40, 50及60 mm的横孔作为测定普通斜探头K值的标准反射体。选择SGB试块上深5, 10及20 mm的横孔作为小径管焊接接头探头K值测定的标准反射体。 使用CTS-22设备在上述试块上测得的斜探头前沿l0及K值见表1和表2。 4.1 加工工艺的前沿测试值 从理论上说, 斜探头在钢中的剩余近场区长度N′可以通过式 (8) 计算: N′=Fscosβπλs2cosα?L1tgαtgα(8)Ν′=Fscosβπλs2cosα-L1tgαtgα(8) 式中Fs——波源面积; β——横波入射角; λs2——介质Ⅱ中的横波波长; α——纵波入射角; L1——入射点至波源的距离。 虽然计算所需参数并不总能准确确定, 但可用式 (8) 对钢中的剩余近场区长度进行近似估算。 (1) 如表1所示, 1号探头的K值标称值为1, 与其他探头相比, 其近场区长度最长, 在钢中的剩余近场区声程长度25 mm, 从而使R25 mm回波的前沿测试值与远场R50 mm和R100 mm回波的前沿测试值有较大差异。 (2) 2号和3号探头的K值测试值较为接近, 其原因在于, 斜探头钢中剩余近场区长度不仅与探头的晶片面积、频率和K值有关, 而且还与晶片至声束入射点的距离L1有关, 如式 (8) 所示。因这两个探头的晶片至声束入射点的