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基于ppln晶体差频法的飞秒激光频率梳系统信号测量 1. f—引言 飞秒激光脉冲的微波波峰（ce）的波束相位偏移在强场物理中起着非常重要的应用。例如，高次声波的产生、x波的产生和多波长傅里叶合成产生了银行波的明亮变化。用于研究和记录飞秒激光脉冲的波幅需要稳定的飞秒激光脉冲。近年来，利用锁相环反馈电路将影响激光腔，并对飞秒激光脉冲的波幅进行了高精度控制。波形干扰的一般方法是频率范围的自参考测量技术，也被称为f-2f技术。该技术首先利用f-2hf-f，利用超连续光谱中的高频分量和低频分量波束的振幅，在宽度小于4m的超连续光谱中表示频带的波幅。波动噪声输出的波幅是绝对稳定的。frep-2如果同时控制传输噪声输出的重复频率frep和波幅包络频率波动，并且波动包络波速u是绝对稳定的。这类测量和控制波幅延迟的方法非常简单，但引入的云晶碘的芯径只有1-2米。要将光移植到这些细光束中，需要很长时间保持稳定性。此外，光纤头容易被灰尘污染，需要定期切割。因此，光纤的使用不利于长期、稳定、可靠地运行飞秒激光频率。 2004年接连报道了利用差频产生载波包络相移自稳定的飞秒激光脉冲及飞秒频率梳,Fuji等人最近利用薄片PPLN晶体差频法实现了无光子晶体光纤的宽谱飞秒钛宝石激光器直接输出相移自稳定的飞秒激光脉冲,并且得到了载波包络相移的拍频信号,这是目前最简单的测量载波包络频移信号的方法,本文利用此方法实现了对自建的重复频率为160 MHz的宽谱飞秒钛宝石激光振荡器的载波包络频移信号的测量,并得到了以1600 nm为中心波长的载波包络相移自稳定的差频梳,频谱仪记录到的拍频结果显示,载波包络频移信号的信噪比可达34 dB,完全可以达到锁相环直接控制的要求. 2. 测试系统的f国法介绍 与f—2f测量技术类似,差频法也是利用两个波长接近的光谱成分拍频得到载波包络频移信号的,只是这里参与拍频的光谱成分一个来自基频光,另一个来自差频光,所以又称这种方法为0—f测量技术,下面详细介绍此方法的物理机理及其优点. 通常飞秒激光振荡器输出的飞秒脉冲串在频域上是一系列间隔相等幅度不等的分立频谱成分,又称为飞秒频率梳,其中每个光谱成分的频率表达式可以写为 fn=nfrep+fceo,(1)fn=nfrep+fceo,(1) 这里n是一个数值很大的整数,代表频率梳谱线的标记.假设其中的某些低频成分与高频成分在非线性晶体中产生差频效应,差频光谱的表达式为 fd=(n1frep+fceo)?(n2frep+fceo)=(n1?n2)frep.(2)fd=(n1frep+fceo)-(n2frep+fceo)=(n1-n2)frep.(2) 可以看出,差频光中fceo为0,也就是说,差频光梳是相位自稳定的,这样的光可作为种子光进一步放大从而得到相位为0的自稳定的强飞秒激光脉冲,这在强场物理的高次谐波产生研究中具有重要应用. 在(1)和(2)式中假设n与n1-n2相同,然后将(1)与(2)式相减,就可得到fceo拍频信号,即 fn?fd=nfrep+fceo?(n1?n2)frep=fceo.(3)fn-fd=nfrep+fceo-(n1-n2)frep=fceo.(3) 实验上的测量原理如图1所示.图中基频梳曲线代表振荡器直接输出的光谱经自相位调制效应后得到的展宽光谱,由于自相位调制效应只是将光谱展宽,并没有改变光谱的特性,所以这里仍然叫做基频梳,曲线包络内的虚竖线代表实际的频率梳的位置,也就是fceo不为0的频梳谱线.差频梳曲线代表基频梳中某些低频和高频光谱(如箭头所示)经差频效应后产生的光脉冲的光谱曲线,可以看出这个差频梳曲线位于红外区,曲线包络内的实竖线代表载波包络相移为0的频梳谱线,在基频梳和差频梳的重合区会发生(3)式所指的拍频现象,于是探测这部分的光信号就会得到载波包络频移的拍频信号. 晶体差频法测量飞秒激光脉冲载波包络频移的最大优点在于取代了系统中的光子晶体光纤,这一方面使频率梳系统更加稳定,另一方面由于经过差频晶体后的基频光功率损耗很小,基频光分离出来可以继续用作放大的种子光,而光子晶体光纤的耦合效率通常只有20%—30%,飞秒脉冲经过光子晶体光纤后功率损失较大,这不利于放大和测频的应用.但相比自参考测量法,差频测量对飞秒振荡器的要求较高,为了保证差频及自相位调制效应同时产生,要求飞秒振荡器输出的飞秒脉冲谱宽足够宽(600—1000 nm),脉宽足够窄(10 fs).我们实验室使用商用宽带啁啾镜建成了宽谱7 fs钛宝石振荡器,在此基础上,利用差频技术对这台振荡器输出的飞秒激光脉冲的载波包络相移进行了测量. 3. 飞秒脉冲的准直 差频测量飞秒激光脉冲的实验装置如图2所示,方框中的钛宝石振荡器与文献中的啁啾镜补偿色散的宽谱振荡器类似,只是为了更好地补偿腔内的高阶色散,