存储器辐照总剂量试验方法研究的中期报告.docxVIP

存储器辐照总剂量试验方法研究的中期报告 本研究旨在探讨存储器辐照总剂量试验的可行性和方法。本中期报告主要包括以下几个方面的内容： 一、研究背景 随着航空、航天等领域的不断发展，对存储器等电子元器件的高可靠性和高稳定性需求越来越高。而核辐照是一种较为可靠的模拟环境，在较短时间内模拟出电子器件的长期稳定性情况，对于元器件的设计、制造和选型具有重要意义。 二、试验方案设计 本试验采用60Coγ射线作为辐照源，对存储器进行总剂量辐照试验。试验过程中采用了一系列辐射监测方法，包括： 1.热释电偶：对环境温度和试件表面温度进行监测； 2.电离室：对γ射线进行进行剂量率的实时监测； 3.射线计：对试件的辐射剂量进行监测。 三、试验结果分析 试验结果表明，存储器在辐照后存在一定的辐照损伤，具体表现为存储器的存储丢失率增大、存储器读写速度变慢等。但是，存储器的基本性能仍能够保持在较高水平，表明存储器在一定的剂量范围内还具有良好的抗辐照能力。 四、结论和展望 通过本次试验，证明了存储器辐照总剂量试验的可行性和实用性，为存储器等电子元器件的辐照总剂量试验提供了新的思路。同时，未来还需要进一步对存储器的辐照损伤机理进行深入研究，以更好地提高存储器的辐照抗性能。