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地震峰值频率与厚度关系的量板分析 1 基于设置频率域和属性综合预测的薄薄质控制法 薄厚度定量勘探是地震勘探的研究主题之一。Widess开辟了薄层研究的先河,并将厚度小于入射子波八分之一主波长的地层定义为薄层。Neidell等用四分之一主波长定义“调谐厚度”。实际上,考虑噪声和子波的影响,通常将四分之一主波长对应的薄层厚度作为实际地震分辨率的极限。考虑分辨率极限定量预测薄层厚度的方法有三类。第一类是利用薄层反射振幅与厚度的关系进行定量计算,可称为时间域方法。第二类是根据频谱的特征预测薄层厚度,可称为频率域方法。第三类是利用地震属性采用非线性反演方法对薄层厚度进行综合预测,可称为属性综合预测方法。Widess最早提出利用振幅信息预测薄层厚度的思想,但其研究仅限于顶、底反射系数等幅异号的情况;Chung和Lawton等将其推广到顶、底反射系数等幅异号和等幅同号两种情况。薄层定量研究的第二类方法主要包括谱分解和谱反演两种技术。谱分解技术在刻画地质异常体厚度变化及描述地质异常体横向不连续性方面得到了广泛应用,缺点是在频域内拾取频陷周期时受地震频带的限制。除此之外,有学者利用地震频谱低频部分或利用地震道的瞬时峰值频率计算薄层的厚度。薄层定量预测的第三类方法——属性综合预测法,其基本思想是认为地震属性参数与薄层厚度存在非线性关系,可以采用优化的非线性反演算法预测薄层厚度。 本文基于第二类方法,讨论了利用地震峰值频率定量计算薄层厚度的方法,借助三层双界面薄层模型推导了地震峰值频率与厚度的理论关系表达式。该公式表明利用地震峰值频率计算薄层厚度无需已知顶、底反射系数的绝对大小,便于实际应用。文中讨论了子波类型、子波相位及子波峰值频率对薄层峰值频率与厚度关系的影响。在此基础上,建立了不同顶、底反射系数组合下薄层地震峰值频率与厚度关系的量板,总结了地震峰值频率随薄层厚度变化的一般规律,提供了一种利用量板拾取薄层厚度的新思路。 2 地震记录频率fsp的激发域属性应变性描述 地震波在地层中的传播过程可以看成一个滤波器系统,假定输入为震源产生的子波w(t),地层反射系数序列为r(t)。由褶积模型可知,子波通过地层产生的地震响应s(t)可表示为 s(t)=r(t)*w(t)(1)s(t)=r(t)*w(t)(1) 由傅里叶变换的性质可知,地震响应s(t)的振幅谱As(f)为 As(f)=Ar(f)?Aw(f)(2)As(f)=Ar(f)?Aw(f)(2) 其中Ar(f)和Aw(f)分别为反射系数序列和子波的振幅谱。由式(1)、式(2)可见,子波和反射系数序列共同影响合成地震道的时间域及频率域响应特征。 考虑如图1所示的三层、双界面薄层模型,设薄层顶、底反射系数分别为r1,r2,薄层的双程旅行时间厚度为τ。假定输入子波为雷克子波,峰值频率为fp,则其频谱为 Aw(f)=(ffp)2exp[?(ffp)2](3)Aw(f)=(ffp)2exp[-(ffp)2](3) 反射系数的振幅谱为 Ar(f)=r11+r22+2r1r2cos(2πfτ)????????????????????√(4)Ar(f)=r11+r22+2r1r2cos(2πfτ)(4) 文中将地震峰值频率定义为振幅谱最大值对应的频率值,故地震记录峰值频率fsp满足条件dAs(f)dfdAs(f)dff=fsp=0,即 fsp[r1r2?πτsin(2πfspτ)]?[r21+r22+2r1r2cos(2πfspτ)][1?(fspfp)2]=0(5)fps[r1r2?πτsin(2πfpsτ)]-[r12+r22+2r1r2cos(2πfpsτ)][1-(fpsfp)2]=0(5) 式(5)表征了合成地震记录峰值频率fsp与薄层的双程旅行时间τ的关系,为利用地震峰值频率定量求取薄层厚度提供了理论基础。将式(5)两边同除以r2222,得 fsp[R?πτsin(2πfspτ)]?[1+R2+2Rcos(2πfspτ)][1?(fspfp)2]=0(6)fps[R?πτsin(2πfpsτ)]-[1+R2+2Rcos(2πfpsτ)][1-(fpsfp)2]=0(6) 其中R=r1r2R=r1r2为顶、底反射系数之比。由式(6)可见:合成记录峰值频率fsp与薄层的双程旅行时间τ的关系只随子波峰值频率fp以及反射系数比值R而变化。因此当子波一定时,fsp与τ的关系只随顶、底反射系数比值R而变化,与r1、r2的绝对大小没有关系。 3 地震合成地震道的影响因素 理论研究表明,子波和反射系数共同影响合成地震道的时间域及频率域地震响应特征,因此了解地震子波及地层顶、底反射系数组合对合成地震道的影响规律具有重要的理论和实际意义。本文首先借助最常见的两类薄层(等幅韵律型薄层及等幅递变型薄层)模型讨论子波类型、相位