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便携式 X 荧光仪的工作原理及其结构

目前，除了正比计数器、闪烁计数器、Si(Li)半导体探测器[.S.IJ]等已 经．l 泛应

用千各种商用仪器外．具有超导特性的半导体探测器的研制也取得了显著的发展．

3.:?.I正比计数器

正比计数器是一种气体探测器[ll]（图3-2流气正比计数器结构），它是一种以气体在X射线或其他射线、粒子辐射条件下产生电离为依掀的核辐射探测器．若给芷比计奻器的两极加上电压，电子－离子对就会在电容器空间形成，则电荷就会被电极收梨从向形成电伯号．

高压接头

芯线 外朵

气-体出口

息＿

气体进口

I l 1l l

I l 1

聚胎股窝口

X射线

图辽涌气正比计数并结构

正比计数器是工作在正比区的气体探测器。在一个电容器中，充某种气体（以Ar为例）．在电容器的两极上通商压就丿侈成了正比计数器。其工作有两种方式，一种是一股的电离过程，即一定能立的X射线发射到电容器中引起Ar原子的电离。电恣产生原电离离子对受到放大形成离子对群，从爪）产生电离电流，则可以形成单独的电流脉冲匹I? 另外一 种方式，当入射X射线能址大十沁原子的吸收限时，就会产生A丁兀紊 K 层的特征 X 射线。 与此问时 ，激发出的K层光电子可以电离其他的原子．但ArKa射线被釭原子吸收的儿芍非常小，直接逃逸出计数管，这样就形成了逃逸峰．

正比计数器的性能参数主要有脉冲的波形、死时间、恢复时即｀分祈时间、探测效穿、坪特性、能虽分辨芽等等。这些参数都直接决定若正比it数器的性能好坏，但仍存在许多影响因紊．主要有以下几个方面阳］

l)计数管内的所充气体的成份及纯度。如果所充气体中沮入了空气、水汽等容易彤成负电离的气体，在放电过程中负离子的运动缓慢与电子引起的雪削完企不同，这杆就改变了所充气体的气体放大系数，降低了输出的脉冲电压幅度。

)逃逸峈。一般f肖况下，逃逸峰强度较弱，但有时候也很强。逃逸蛭会降低全能峰伯效弃，但有时也可应用逃逸峰进行元素的定垃渊拉：

)探测效率。在低能区，由千计数管窗物质吸收，效率较低 在点能区，因光电吸收截而减小，效字也低。所充气体伯庄力、密度、以及猝灭气体的成分、比例等因素都会在某种程度上彩呥到正比计数器的探澜效界。

)其他影响因素。所测址的对象也会员呐到探测器的能品分拼菩＇。计数芍

过商时，电离形成的大址离子就会堆积在计数管的阳极附近，从而改变电场，使得电场伯强段减弱，气体放大系数踝若减小，使得企能峰发生潦移现象。此外，温度的变化也会影呴正比计数器的能独分辨序，带来气体分子热运动速度的变化，从前改变了气体放大系数。

322闪烁计数器

闪烁计数器是由闪讶从、光导、光电倍增管、窝压电泌及附屈电跺组成（图3-3所示NalCTl)闪烁计数器）。闪烁体受X射线光子的激发后，产生可见光。可见光射向光电倍增智，在光电阴极澈发出光电子，光电子在倍增器电场们作用下，线性放大，再通过外加电路的作用形成脉冲仙号。

光坎阴攸

发射极

铝院 1媒佳电

极

1

次级II.!f

X射浅

可见光

光电子

尸 生前笘放大鼎

廿令吓

图 I为好探浏书的结构示意图

闪烁计数器常用的闪烁体是Nal(Tl) ，它是一种应用广泛的无机晶体，燠的原子序数很窝，具有较大的阻止木领。与此间时，NaI(Tl)闪烁体的相对发光效菩大．探测效平话等特点使其得到广泛们应用．

闪烁计数器上的光导主耍功能是将闪烁体发出的光子传递钊光电倍培管的光电阴极上。其作用一方而是防止光子的散久，另一方面是阻止在介质表面上出现反射现象。

在闪烁计数器中的光电倍培笸是一种真空光电兀件．它是将光电阴极产生们光子经过多级倍增，在阳极收栠大虽电子群，形成电流脉冲．光电倍增管的放大倍数M指倍增管的光电阴极发射们光电子有一个到达倍增极，经过多次倍增后，阴极收共到的电子数。即(13]

M = 阴极收线到的电子数 (3-1)

第一倍增极收渠到的电子数

闪烁计数器的性能对仪器测虽结果fl勺汁I!确度起若很 重要的作用，实际生产中会有很多因素影响闪烁计数器的栳定，例如

(1)窝压电源挽定性。对窝压电说的栳定性要求比较苛刻．需耍比光电倍增管放大倍数的捻定性提窝一个数泣级．

(2)光电伴增管特性的慢变化。使用时间长了，存在密封不打或工作条什

恶劣，常常渭解变质等因素，这些都会使得Nal(Tl)罚晶体能社分辨导变差．问时，光电倍府管也会产生疲劳效应，性能变差。

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