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目录索引
TOC\o1-2\h\z\u一、键合机——半导体封装技术进步的承载 6
(一)键合机是半导体后道封装环节的重要设备 6
(二)受益于先进封装,键合机迎来广阔发展 7
二、封装技术不断演进,对键合工艺要求持续提高 10
(一)封装技术随芯片性能要求不断演进 10
(二)从引线键合到混合键合,键合工艺不断发展 12
三、国内外半导体键合设备公司梳理 32
(一)先发优势明显,海外龙头占据高端市场 32
(二)国产替代需求推动,国内厂商加速追赶 43
四、风险提示 47
(一)下游行业发展不及预期的风险 47
(二)行业竞争加剧风险 47
(三)国产替代进度不及预期的风险 47
图表索引
图1:传统键合方式和先进键合加工流程对比 6
图2:传统键合方式和先进键合示意图 7
图3:大数据与AI算力需求驱动下,半导体需求长期向好 7
图4:全球先进封装市场规模与增速(亿美元) 8
图5:先进封装架构的提出引入了更多的封装环节 8
图6:全球封装设备市场规模变化情况(百万美元) 9
图7:台积电CoWoS-R示意图 12
图8:台积电SoIC示意图 12
图9:引线键合的结构示意图 13
图10:一次引线键合示意图(引线连接芯片) 14
图11:二次引线键合示意图(引线连接基板) 14
图12:倒装键合结构示意图 16
图13:引线键合和倒装键合信号传输路径对比 16
图14:Bumping工艺发展历程 16
图15:UBM(凸点下金属化层)示意图 17
图16:C4和C2微凸点制作工艺流程 18
图17:批量回流焊工艺流程示意图 18
图18:回流焊键合出现桥接现象 19
图19:热压键合工艺流程示意图 20
图20:热压键合设备示意图 20
图21:TCB和回流焊产量效率对比 20
图22:TSV工艺流程图 21
图23:HBM中各层DRAM的TSV依靠Microbump来连接 21
图24:海力士MR-MUF键合工艺流程 22
图25:海力士HBM堆叠键合技术演进图 22
图26:TC-NCF和MR-MUF结构对比 23
图27:MR-MUF比TC-NCF技术可以更显著降低HBM运行温度 23
图28:混合键合工艺流程示意图 24
图29:索尼的IMX990是最早使用W2W混合键合技术的产品 25
图30:W2W混合键合与D2W混合键合工艺流程对比 25
图31:Co-D2W和DP-D2W键合工艺流程对比 26
图32:键合技术的演进 27
图33:混合键合可以大幅提高单位面积I/O数量 27
图34:SK海力士已于HBM2E上验证了混合键合工艺的可靠性 28
图35:混合键合可以在大幅提高单位面积I/O数量 28
图36:台积电SoIC-WoW混合键合工艺可以显著提高凸点密度 28
图37:AMD3DV-Cache技术运用了混合键合工艺 28
图38:混合键合系统未来保有量预测(台) 29
图39:临时键合和解键合步骤 30
图40:光学临时键合步骤 30
图41:运用热压临时键合+激光解键合的工艺流程 31
图42:BESI产品矩阵 32
图43:BESI在可触及产品市场中占据主导地位 33
图44:BESI近五年营收及增速(亿美元) 34
图45:BESI近五年净利润及增速(亿美元) 34
图46:BESI近五年毛利率、净利率情况 35
图47:BESI收入结构变化 35
图48:ASMPT先进封装系列产品矩阵 36
图49:ASMPT近五年营收及增速(亿美元) 37
图50:ASMPT近五年净利润及增速(亿美元) 37
图51:ASMPT近年毛利率、净利率情况 37
图52:EVG键合机系列产品矩阵 38
图53:EVG320D2W晶片准备与活化系统 39
图54:GEMINI?FB自动混合键合系统 39
图55:SUSS晶圆键合产品矩阵 40
图56:KS半导体封测设备与耗材产品矩阵 41
图57:KS近五年营收及增速(亿美元) 41
图58:KS近五年净利润及增速(亿美元) 41
图59:KS近五年毛利率、净利率情况 42
表1:先进封装的发展带来了键合步骤和设备价值量的提升 8
表2:封装技术各发展阶段详解 11
表3:封装工艺的发展对键合设备的精度要求逐渐提高 12
表4:引线键合主流材质 15
表5:Co-D2W(集成式D2W)和DP-D2W(直接放置D2W)优劣势对比 25
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