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有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法

1.范围

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验

条件、方法。

本文件主要适用于有机发光二极管显示器。

2.规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的

版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适

用于本文件。

GB/T20871.2-2007有机发光二极管显示器第2部分：术语与文字符号

GB/T20871.61-2013有机发光二极管显示器第6-1部分：光学和光电参数测试方

法

T-339有机发光二极管显示器件第6-2部分：测试方法——视觉质量和

亮室性能

GB/T20871.63-2021有机发光二极管显示器件第6-3部分：图像质量测试方法

3.术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

5.2.1主观量化实验

实验人员在一定条件下通过自己的主观感受对缺陷等级做出判断的实验。

5.2.2目视检查

通过人眼观察显示器上的缺陷来进行缺陷等级评估的方法。

5.2.3限度样本

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用于判定某一无法量化的质量特性的参考标准。

5.2.4云纹缺陷

显示器局部的细微亮度或颜色变化区域。

5.2.5线缺陷

显示器上可被观察到的平行于一行或列的水平或竖直的亮线或暗线缺陷。

5.2.6点缺陷

显示器件上可被观察到的局部亮度轻微偏暗或偏亮的区域。

5.2.7划痕缺陷

显示为单条或多条线或条状的缺陷，一般在暗背景下较明显。

5.2.8对比度

显示器件中明暗区域最亮的白和最暗的黑之间不同亮度层级。

5.2.9亮度云纹缺陷

除像素缺陷外，亮度与显示器件的背景不同的部分。

5.2.10色度云纹缺陷

除像素缺陷外，色度与显示器件的背景不同的部分。

4.略缩语

下列略缩语适用于本文件。

SEMI国际半导体产业协会(SemiconductorEquipmentandMaterials

International)

CSF对比度敏感函数(ContrastSensitivityFunction)

JND最小可觉差(JustNoticeableDifference)

5.主观实验方法

5.1概述

为了获取人眼对Mura缺陷不同严重程度的评价数据，首先要进行主观量化实验来

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采集数据。国际电信联盟（InternationalTelecommunicationUnion，ITU）发布了

一系列针对此类主观评价实验的建议和标准。Mura缺陷主观量化实验根据ITU标准的指

导进行设计。该实验采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。

除显示器件内部因素外，实验场景中的其他外部条件也会影响最终结果。因此，实验

根据Mura缺陷特性和人们日常使用手机的习惯，选择合适的客观因素进行控制。

5.2量化因素

在本标准中，量化模型所选择的量化因素为对比度、尺寸及类型。

5.2.1对比度因素

缺陷对比度因素会直接影响Mura缺陷的显著程度，因此作为首要考虑因素，其值

通过Mura缺陷区域内外平均灰度进行计算，同时为了减少全局光照不均带来的影响，

通常选取计算的整个背景区域替换为周围一定大小背景区域，平均对比度C由下式进行

计算：

=

其中，和分别表示缺陷区域和背景区域的灰度均值。该方法适用于黑白Mura

缺陷区域对比度的计算，对于彩色Mura，通过亮度进行进行对比度计算。首先参照附

件B中图B.1色域转换的方式，将图片从RG