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超材料隐身测试紧缩场系统规范

1范围

本文件规定了超材料隐身测试紧缩场系统（以下简称“紧缩场系统”）的系统构成、测量方法、试验报告以及安全防护的内容。

本文件适用于各类超材料隐身特性测试的紧缩场系统。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB8702-2014电磁环境控制限值

GB/T12190-2021电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

GB/T23463-2009防护服装微波辐射防护服

GB/T40602.3-2023天线及接收系统的无线电干扰第3部分：场地测量紧缩场场地性能确认方法

3术语和定义

GB8702-2014、GB/T12190-2021、GB/T40602.3-2023界定的术语和定义适用于本文件。

4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

RCS：雷达散射截面（RadarCrossSection）。

PLC：可编程逻辑控制器（ProgrammableLogicController）。

5系统构成

5.1概述

5.1.1紧缩场场地是一金属封闭的屏蔽壳体，六个面都贴有吸波材料的微波暗室场地。场地的性能确认需在静区内进行，确认参数包括幅度平坦度、幅度锥削、幅度波纹、相位平坦度、相位锥削、相位波纹和交叉极化。

5.1.2紧缩场系统由微波暗室屏蔽和吸波系统、紧缩场反射面和馈源系统、转台系统、测试与控制软件系统等组成。

5.1.3超材料隐身测试紧缩场系统主要功能是在实验室环境下，模拟自由空间远场条件，对超材料的隐身性能进行精确测试与分析。通过发射特定频率、极化和强度的电磁波照射超材料样品，接收并测量样品反射波和散射波的幅度、相位、极化等特性，计算得出超材料的RCS值、吸收系数、透射率等隐身性能关键指标。

5.2超材料隐身测试紧缩场系统的系统组成与架构

5.2.1反射面系统

采用高精度抛物面反射镜，精度优于50μm，核心区域（7.0m×5.0m）型面精度优于40μm，支撑结构带有调整功能，确保电磁波能够准确聚焦到测试区域。

5.2.2馈源系统

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配备高性能喇叭馈源天线，工作频率范围覆盖1GHz至500GHz，天线增益大于60dB。通过调节馈源的位置与角度，实现对电磁波发射方向与聚焦效果的精确控制。

5.2.3定位与支撑系统

采用高精度电动位移平台与多自由度旋转关节组合的结构，用于超材料样品的定位与姿态调整。支撑结构采用低散射系数的材料制作，确保在测试过程中对电磁波的干扰最小化，且具备足够的机械强度与稳定性，能够承载不同尺寸与重量的超材料样品。

5.2.4测量系统

5.2.4.1运用多通道并行测试技术设计并实现了在0.5GHz～40GHz宽带RCS测试功能。

5.2.4.2采用极化并行技术设计并实现0.5GHz～40GHz全频段测试时间小于4min.

5.2.4.3通过三维复杂电磁环境系统级仿真技术实现背景RCS(矢量对消后)0.3GHz～0.5GHz时优于-55dBsm。

5.2.4.4利用多通道一致性实时补偿算法实现0.3GHz～40GHz各频段数据采集幅相拼接成像。

5.2.4.50.3GHz～40GHz整频段数据拼接后连续的高精度二维成像分辨率应优于5cm。

5.2.5控制系统

基于工业PC与PLC构建的控制系统，具备手动与自动控制模式。通过控制软件，实现对反射面姿态、馈源参数、样品定位与支撑系统运动的精确控制。

5.3测量环境要求

紧缩场系统测量条件如下：

——环境温度：15℃~35℃;——相对湿度：25%～75%;

——大气压力：86kPa～106kPa。

5.4电源要求

5.4.1紧缩场系统的电压波动应在额定电压的±5%以内，频率变化应在额定频率±5%以内，配置不间断电源。

5.4.2紧缩场系统的工作用电和测量用电均应进行滤波。

5.5测量场地要求

屏蔽性能检测应按照GB/T12190-2021的规定进行。

5.6场地指标

紧缩场系统主要参数指标如表1所示。

表1参数指标

参数名称

指标

频率范围，GHz

1～500

动态范围，dB

≥60

静区尺寸，m

0.5m×0.5m～12.0m×12.0m

交叉极化，dB

-30

静区幅度波纹，dB

±0.5

幅度锥削，，dB

1

静区相位波动，°

±8

6测量方法

6.1概述

6.1.1紧缩场系统可