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材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析) .pdfVIP

材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析) .pdf

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材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)--第1页

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8.什么是弱束暗场像?与中心暗场像有何不同?试用Ewald图解说明。

答:弱束暗场像是通过入射束倾斜,使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑,透

射束和其他衍射束都被挡掉,利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。

与中心暗场像不同的是,中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像,即除直射束外

只有一个强的衍射束,而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像,采用很大

的偏离参量s。中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件,衍射强度较强,而弱束暗场

像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像,衍射束强度很弱。采用弱束暗场像,完整区域的

衍射束强度极弱,而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射,形成高分辨率的缺陷图像。

图:PPT透射电子显微技术1页

10.透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什

么办法及根据什么特征才能将它们区分开来?

答:由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同,则层错区和与相邻区域形

成了不同的衬度,相应地出现均匀的亮线和暗线,由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同,

故所有亮线和暗线的衬度分别相同。层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间

距条纹。

孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同,或者还由于点阵类型不同,一边的晶体处于双光束

条件时,另一边的衍射条件不可能是完全相同的,也可能是处于无强衍射的情况,就相当于

出现等厚条纹,所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹,不同的是孪晶界是一条

直线,而晶界不是直线。

反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。

层错条纹平行线直线间距相等

感谢下载载

材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)--第1页

材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)--第2页

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反相畴界非平行线非直线间距不等

孪晶界条纹平行线直线间距不等

晶界条纹平行线非直线间距不等

11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬

度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么?

答:质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,

导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬

度。

衍射衬度:由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同

而形成各区域图像亮度的差异,形成的衬度。

相位衬度:电子束透过样品,试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生

变化,样品中不同微区对相位变化作用不同,把相应的相位的变化情况转变为相衬度,称为

相位衬度。

物镜聚焦方面的不同:透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时,透射束和衍

射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象,这种相位衬度图像的

形成是透射束和衍射束相干的结果,而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。

XRD部分

4.什么是物相分析?物相定性分析的基本依据与步骤如何?

答:物相分析是指确定材料中有哪些相组成和确定各组成相的含量。

基本依据:

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