辐射测量方法课件.ppt

減小偶然符合計數率的方法：(1)減小符合分辨時間?s，但是會影響符合效率(2)減小各符合道計數率n。推廣：i重符合時的偶然符合計數率：例：實驗測得偶然符合計數率nrc=72/hr.符合道計數n1=n2=100/sec，求分辨時間?s。真偶符合比符合計數的實驗測量值中總是包含真符合計數和偶然符合計數。真符合計數率為：偶然符合計數率為：則，真偶符合比為：仍以?－?符合為例：(4)延遲符合關聯事件可以是同時性事件，也可以是不同時性事件。飛行時間方法(TOF)測量粒子的飛行時間。(5)符合曲線符合脈衝受到多方面因素的影響：輸入脈衝的形狀；符合電路的工作特性；計數器的觸發閾值。這些因素影響符合性能，其綜合效應可以通過符合曲線表現出來。符合曲線：n(td)~td電子學暫態符合曲線，假設：同步信號頻率nco；不存在時間離散；成形脈衝是理想的矩形波。符合曲線的高度為nco，半寬度為:由此決定電子學分辨時間為：FWHM/2＝?。電子學分辨時間與成形脈衝寬度、形狀、符合單元的工作特性等因素有關。物理暫態符合曲線：探測器輸出脈衝時間統計漲落引起的時間晃動；系統雜訊引起的時間晃動；定時電路中的時間遊動。由此決定物理分辨時間。快符合的符合曲線寬度主要是脈衝時間離散的貢獻。慢符合：成形脈衝寬度10?8sec.；快符合：成形脈衝寬度10?8sec.。2．符合測量裝置1)、多道符合能譜儀加速器帶電粒子核反應：DET2DET12）、HPGe反康普頓?譜儀用HPGe反康普頓?探測器測得的60Co?能譜3）快慢符合裝置4）4??-?符合裝置n?n?nc這是一種測量放射性活度的標準方法，適用於帶?－?級聯衰變的放射性核素。（1）偶然符合的校正其測量結果的修正因素為：設由?道、?道及符合道輸出的計數率分別為：其中：而：則：（2）死時間校正各道死時間由成形電路決定，用?表示。在?時間內，放射源不發生衰變的概率為1－A?考慮死時間後，?道的探測效率為：所以，?道的計數率可表示為：在?內發生衰變的概率與探測效率的乘積。在?內發生衰變，但沒有被測到，這部分實際上未受?的影響，要補回去。類似可得出?道的計數率為：符合道的計數率應為：並考慮A?1，可得到：若綜合考慮偶然符合及死時間兩項修正，可以得到源活度Ａ.這樣，只要測出三道的計數率及它們的本底計數率，並事先測定各道的死時間和符合裝置的分辨時間，就可以求出源的活度。其他校正因素還有：內轉換電子修正；?探測器對?靈敏度修正；?探測器對?靈敏度修正；?-?符合計數修正，等。5)雙PMT液體閃爍計數器395頁圖12－11(b)特點：採用符合方法，可以降低光電倍增管的雜訊，有利於低能?粒子核素等的測量。6）、延遲符合裝置測量核激發態壽命暫態符合曲線；延遲符合曲線。當?e?時，取對數，得到：直線擬合可以求出核激發態壽命?e。12.3?能譜與?最大能量的測定1.能量的測量凡是輻射粒子的能量測量，探測器都必須工作於脈衝工作狀態(電壓脈衝工作狀態或電流脈衝工作狀態均可)。在電壓工作狀態時，脈衝幅度：為入射粒子在探測器靈敏體積內產生的資訊載流子的數目。1)能譜但實驗直接測得的是脈衝幅度譜，即式中dN代表脈衝幅度落在h~h+dh的脈衝數，dN/dh表示輸出脈衝幅度為h的單位幅度間隔內的脈衝數。由於統計漲落，即使對同一能量的帶電粒子，也會產生不同幅度的脈衝，形成脈衝幅度分佈。脈衝幅度分佈的中心值對應某一入射粒子的能量。能譜的定義：能譜就是的直方圖。實測多採用多道脈衝幅度分析器，給出：2)譜儀的能量刻度和能量刻度曲線探測器輸出脈衝幅度與入射粒子能量E一般具有線性關係，這裏的指脈衝幅度分佈的中心位置的幅度值。若輸出脈衝幅度與入射粒子能量具有良好的線性關係。則有：而脈衝幅度分析器具有良好的線性，所以：增益，單位為[KeV/ch]零道址對應的粒子能量，稱為零截E與x的函數關係E(x)，稱為能譜儀的能量刻度曲線。借助於一組已知能量的輻射源進行能量刻度，而得到一條能量刻度曲線。橫坐標為道址x，縱坐標為入射粒子的能量E。2.?能譜的測定1)能量解析度以金矽面壘半