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红外探测材料型号命名方法

1范围

本文件规定了红外探测器用化合物半导体材料和热释电材料的型号命名方法。

本文件适用市红外探测用化合物半导体材料包括锑铟锅(单晶)、锑化镓、碲锌镉等单晶材料,锑化

铟(薄膜)、碲镉汞、铟镓砷、二类超晶格、量子阱等薄膜材料以及热释电材料包括硫酸三甘肽、钽酸

锂、铌酸锶铅、钛酸锂等单晶材料,锆钛酸铅、钛酸铅等金属氧化物陶瓷材料,聚氟乙烯,聚偏氟乙烯

等高分子聚合物材料。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,

仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本

文件。

GB/T14264-2024半导体材料术语中界定的术语和定义

3术语和定义

GB/T14264-2024半导体材料术语中界定的术语和定义适用于本文件。

4型号命名方法

4.1红外探测器用化合物半导体材料型号命名方法

4.1.1型号结构

型号结构如下图所示,分别由材料尺寸、材料名称、第一~第四特征值这几个部分组成。

4.1.2材料尺寸

1

型号中的第一项材料尺寸表示材料的尺寸,对于圆形材料,应使用材料直径来表示,例如直径2英

寸的材料,应用2表示,直径5英寸,应用5表示;对于方形材料应使用长边长度(长方形)或边长(正

方形)(mm)来表示,长边长度或边长在15≤L<25范围内的,表示为20,25≤L<35范围内的表示为30,

其他尺寸表示形式按照此方法进行。例如25mm×35mm材料,应用30来表示。

4.1.3材料名称

对于每种材料,材料名称表示方法为材料分子式或英文名的简写符号表示,例如:

a)锑化铟表示为InSb;

b)碲镉汞表示为MCT;

c)碲锌镉表示为CZT;

d)锑化镓表示为GaSb;

e)铟镓砷表示为IGA;

f)二类超晶格材料:铟砷/镓锑表示为InAs/GaSb,铟砷/铟砷锑表示为InAs/InAsSb,其他二类超

晶格材料表示形式按照此方法进行;

g)量子阱材料:镓砷/铝镓砷表示为GaAs/AlGaAs,其他量子阱材料表示形式按照此方法进行;

h)其他材料表示形式按照此方法进行。

4.1.4第一特征值

对于每种材料,第一特征值表示方法应按照表1所示。

表1第一特征值表示方法

分类材料中文名称特征值含义表示符号

锑化铟(单晶)

锑化镓

晶体类材料

碲锌镉

采用生长方法的英文缩写表示:例如直拉法表示为CZ,

其他晶体类材料

垂直布里其曼法表示为VB,液封直拉法表示为LEC,分

锑化铟(薄膜)

生长方法子束外延表示为MBE,液相外延表示为LPE,气相外延表

碲镉汞

示为VPE,金属有机化学气相沉积表示为MOCVD,其他生

铟镓砷

薄膜类材料长方法表示形式按照该方法进行。

二类超晶格

量子阱

其他薄膜类材料

4.1.5第二特征值

对于每种材料,第二特征值表示方法应按照表2所示。

表2第二特征值表示方法

材料中文名称特征值含义表示符号

2

锑化铟(单晶)

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